دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Buddy D. Ratner and Vladimir V. Tsukruk (Eds.)
سری: ACS Symposium Series 694
ISBN (شابک) : 9780841235625, 0841235627
ناشر: American Chemical Society
سال نشر: 1998
تعداد صفحات: 364
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 44 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy of Polymers به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ پروب اسکن پلیمرها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
محتوا: میکروسکوپ کاوشگر روبشی در پلیمرها: یادداشت های مقدماتی /
رنه ام اورنی و ولادیمیر وی تسوکروک --
مورفولوژی، تاشو و ساختار تک بلورهای پلیمری / D.H. Reneker و I.
Chun --< br/> تحقیقات نیروی اتمی پلی (پروپیلن) تاکتیکی
متبلور همپایه / ولفگانگ استوکر، اندرو جی. لاوینگر، مارتینا
شوماخر، سابین گراف، ژان کلود ویتمن، و برنارد لوتز --
مورفولوژی، بسته بندی زنجیره، و ترکیب در پلیمرهای تک محوری مورد
مطالعه با میکروسکوپ نیروی روبشی / G.J. Vansco, H. Schönherr,
and D. Snétivy --
تشکیل ساختارهای فیبریلار از بیوپلیمرها / M.C. گوه، م.ف. Paige،
P. Markiewicz، I. Yadegari، و M. Edirisinghe --
تغییر شکل ناشی از تغییرات در خواص سطحی پلیمرها بررسی شده توسط
میکروسکوپ نیروی روبشی / S. Hild، A. Rosa، و O. Marti --
میکروسکوپ پروب روبشی: ابزاری مفید برای تجزیه و تحلیل ترکیبات
پلیمری پر شده با کربن سیاه / Ph. Leclère, R. Lazzaroni, R.
Lazzaroni, F. Gubbels, M. De Vos, R. Deltour, R. Jérôme, و J.L.
Bredas --
اثر تیمارهای حرارتی و حلال بر مورفولوژی سطح الفین ترموپلاستیک و
ترکیب مورد مطالعه با تکنیک های حساس به سطح / M.P. اورسون، ام.
میکولک و پی. اشمیتز --
میکروسکوپ نیروی روبشی لایه های نازک ناهمسانگرد مزدوج رشد یافته
در خلاء بالا / فابیو بیسکارینی --
میکروسکوپ نیروی اتمی نمونه های نرم: ژلاتین و سلول های زنده /
Jan Domke، Christian Rotsch، Paul K. Hansma، Ken Jacobson، و
Manfred Radmacher --
نیروی اتمی، اسکن لیزر کانفوکال، و میکروسکوپ الکترونی روبشی
توصیف تجزیه سطحی یک پلیمر / Ch. Bourban, J. Mergaert, K.
Ruffieux, J. Swings, and E. Wintermantel --
میکروسکوپ نیروی روبشی ساختار سطح و خواص مکانیکی سطح تک لایه های
ارگانوتریکلرسیلان تهیه شده به روش لانگمویر / آتسوشی تاکاهارا،
شورن گی، کن کوجیو و تیساتو کاجیما --
خواص اپتیکی و ساختاری لایه های لانگمویر-بلاجت در سطح مشترک
هوا-آب و هوا-جامد / L.M. Eng --
میکروسکوپ نیروی اتمی فیلم های لانگمویر-بلاجت پلیمریزه شده به
عنوان یک تک لایه شناور / Jouko Peltonen و Tapani Viitala
--
کاوش کمی در میکروسکوپ نیروی اتمی سطوح پلیمری / Valery N.
Bliznyuk، John L. Hazel، John Wu و Vladimir V. Tsukruk --
کشش یک شبکهای از زنجیرههای پلیمری درهمتنیده با نوک نانو /
J.P. Aimé and S. Gauthier --
ارتباط خواص ویسکوالاستیک پلیمر با اندازهگیریهای اصطکاک با
میکروسکوپ کاوشگر روبشی / Jon A. Hammerschmidt, Greg Haugstad,
Bahram Moasser, Richard R. Jones, and Wayne L. Gladfelter
--
Resolu محدودیتهای میکروسکوپ نیرو / R. Lüthi، Meyer، M.
Bammerlin، A. Baratoff، J. Lü، M. Guggisberg، و H.-J. گونترودت
--
میکروسکوپ نیروی شیمیایی: برهمکنش های کاوشگر و تصویربرداری بین
گروه های عاملی / دیمیتری وی. وزنوف، الکساندر نوی و چارلز ام.
لیبر --
تغییرات pH نیروهای سطحی که توسط نوک های اصلاح شده شیمیایی کاوش
می شود / ولادیمیر وی. تسوکروک، والری ان. بلیزنیوک و جان وو
--
شناسایی و نانوسنگی با میکروسکوپ نیروی اتمی / تی. بولاند، ای.
ای. جانستون، ای. هوبر، و بادی دی. رتنر.
Content: Scanning probe microscopy in polymers : introductory
notes / René M. Overney and Vladimir V. Tsukruk --
Morphology, folding, and the structure of polymer single
crystals / D.H. Reneker and I. Chun --
Atomic force investigations of epitaxially crystallized tactic
poly(propylenes) / Wolfgang Stocker, Andrew J. Lovinger,
Martina Schumacher, Sabine Graff, Jean-Claude Wittmann, and
Bernard Lotz --
Morphology, chain packing, and conformation in uniaxially
oriented polymers studied by scanning force microscopy / G.J.
Vansco, H. Schönherr, and D. Snétivy --
The formation of fibrillar structures from biopolymers / M.C.
Goh, M.F. Paige, P. Markiewicz, I. Yadegari, and M. Edirisinghe
--
Deformation induced changes in surface properties of polymers
investigated by scanning force microscopy / S. Hild, A. Rosa,
and O. Marti --
Scanning probe microscopy: a useful tool for the analysis of
carbon black-filled polymer blends / Ph. Leclère, R.
Lazzaroni, R. Lazzaroni, F. Gubbels, M. De Vos, R. Deltour, R.
Jérôme, and J.L. Bredas --
Effect of thermal and solvent treatments upon thermoplastic
olefin surface morphology and composition studied with
surface-sensitive techniques / M.P. Everson, M. Mikulec, and P.
Schmitz --
Scanning force microscopy of conjugated anisotropic thin films
grown in high-vacuum / Fabio Biscarini --
Atomic force microscopy of soft samples : gelatin and living
cells / Jan Domke, Christian Rotsch, Paul K. Hansma, Ken
Jacobson, and Manfred Radmacher --
Atomic force-, confocal laser scanning-, and scanning electron
microscopy characterization of the surface degradation of a
polymer / Ch. Bourban, J. Mergaert, K. Ruffieux, J. Swings, and
E. Wintermantel --
Scanning force microscopy of surface structure and surface
mechanical properties of organotrichlorosilane monolayers
prepared by Langmuir method / Atsushi Takahara, Shouren Ge, Ken
Kojio, and Tisato Kajiyama --
Optical and structural properties of Langmuir-Blodgett films at
the air-water and the air-solid interface / L.M. Eng --
Atomic force microscopy of Langmuir-Blodgett films polymerized
as a floating monolayer / Jouko Peltonen and Tapani Viitala
--
Quantitative probing in atomic force microscopy of polymer
surfaces / Valery N. Bliznyuk, John L. Hazel, John Wu, and
Vladimir V. Tsukruk --
Stretching a network of entangled polymer chains with a nanotip
/ J.P. Aimé and S. Gauthier --
Correlating polymer viscoelastic properties with friction
measures by scanning probe microscopy / Jon A. Hammerschmidt,
Greg Haugstad, Bahram Moasser, Richard R. Jones, and Wayne L.
Gladfelter --
Resolution limits of force microscopy / R. Lüthi, Meyer, M.
Bammerlin, A. Baratoff, J. Lü, M. Guggisberg, and H.-J.
Güntherodt --
Chemical force microscopy : probing and imaging interactions
between functional groups / Dmitri V. Vezenov, Aleksandr Noy,
and Charles M. Lieber --
pH variations of surface forces as probed by chemically
modified tips / Vladimir V. Tsukruk, Valery N. Bliznyuk, and
John Wu --
Recognition and nanolithography with the atomic force
microscope / T. Boland, E.E. Johnston, A. Huber, and Buddy D.
Ratner.