دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
دانلود کتاب میکروسکوپ کاوشگر روبشی در علم نانو و فناوری نانو 2
مشخصات کتاب
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
ویرایش: 1 نویسندگان: Ali Fatih Sarioglu, Olav Solgaard (auth.), Bharat Bhushan (eds.) سری: NanoScience and Technology ISBN (شابک) : 9783642104961, 9783642104978 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2011 تعداد صفحات: 822 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 24 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 41,000
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ کاوشگر روبشی در علم نانو و فناوری نانو 2: نانوتکنولوژی، خصوصیات و ارزیابی مواد، سطوح و واسط‌ها، لایه‌های نازک، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، فیزیک مواد متراکم، بیوفیزیک و فیزیک بیولوژیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ کاوشگر روبشی در علم نانو و فناوری نانو 2 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ کاوشگر روبشی در علم نانو و فناوری نانو 2
این کتاب شالوده فیزیکی و فنی پیشرفته‌ترین تکنیک‌های کاوشگر اسکن کاربردی را ارائه می‌کند. این یک نمای کلی به موقع و جامع از برنامه های SPM را تشکیل می دهد. فصل‌های این جلد به تکنیک‌های میکروسکوپ پروب روبشی، توصیف مواد و ساختارهای مختلف و کاربردهای صنعتی معمولی، از جمله مطالعات سطح توپوگرافی و دینامیکی نیمه‌هادی‌های لایه نازک، پلیمرها، کاغذ، سرامیک، و مواد مغناطیسی و بیولوژیکی مربوط می‌شود. این فصل ها توسط محققان برجسته و دانشمندان کاربردی از سراسر جهان و از صنایع مختلف نوشته شده است تا دیدگاه گسترده تری ارائه دهند.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages i-xxvi
Front Matter....Pages 1-1
Time-Resolved Tapping-Mode Atomic Force Microscopy....Pages 3-37
Small Amplitude Atomic Force Spectroscopy....Pages 39-58
Combining Scanning Probe Microscopy and Transmission Electron Microscopy....Pages 59-99
Scanning Probe Microscopy and Grazing-Incidence Small-Angle Scattering as Complementary Tools for the Investigation of Polymer Films and Surfaces....Pages 101-134
Near-Field Microwave Microscopy for Nanoscience and Nanotechnology....Pages 135-171
Single Cluster AFM Manipulation: a Specialized Tool to Explore and Control Nanotribology Effects....Pages 173-194
Front Matter....Pages 195-195
Cell Adhesion Receptors Studied by AFM-Based Single-Molecule Force Spectroscopy....Pages 197-215
Biological Application of Fast-Scanning Atomic Force Microscopy....Pages 217-246
Transport Properties of Graphene with Nanoscale Lateral Resolution....Pages 247-285
Magnetic Force Microscopy Studies of Magnetic Features and Nanostructures....Pages 287-319
Semiconductors Studied by Cross-sectional Scanning Tunneling Microscopy....Pages 321-353
A Novel Approach for Oxide Scale Growth Characterization: Combining Etching with Atomic Force Microscopy....Pages 355-383
Self-assembled Transition Metal Nanoparticles on Oxide Nanotemplates....Pages 385-413
Mechanical and Electrical Properties of Alkanethiol Self-Assembled Monolayers: A Conducting-Probe Atomic Force Microscopy Study....Pages 415-437
Assessment of Nanoadhesion and Nanofriction Properties of Formulated Cellulose-Based Biopolymers by AFM....Pages 439-471
Surface Growth Processes Induced by AFM Debris Production. A New Observable for Nanowear....Pages 473-504
Frictional Stick-Slip Dynamics in a Deformable Potential....Pages 505-531
Capillary Adhesion and Nanoscale Properties of Water....Pages 533-549
On the Sensitivity of the Capillary Adhesion Force to the Surface Roughness....Pages 551-571
Front Matter....Pages 573-586
Nanoimaging, Molecular Interaction, and Nanotemplating of Human Rhinovirus....Pages 587-587
Biomimetic Tailoring of the Surface Properties of Polymers at the Nanoscale: Medical Applications....Pages 589-643
Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics....Pages 645-689
Microscopic Electrical Characterization of Inorganic Semiconductor-Based Solar Cell Materials and Devices Using AFM-Based Techniques....Pages 691-721
Micro and Nanodevices for Thermoelectric Converters....Pages 723-790
Back Matter....Pages 791-812
....Pages 813-816
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Topics in Cryptology – CT-RSA 2009: The Cryptographers’ Track at the RSA Conference 2009, San Francisco, CA, USA, April 20-24, 2009. Proceedings
دانلود کتاب Carleson Measures and Interpolating Sequences for Besov Spaces on Complex Balls
دانلود کتاب Turkey’s involvement in Somalia: assessment of a state-building in progress
