دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications
دانلود کتاب میکروسکوپ و طیف‌سنجی پروب روبشی: روش‌ها و کاربردها
مشخصات کتاب
Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications
ویرایش:
نویسندگان: Roland Wiesendanger
سری:
ISBN (شابک) : 9780511524356, 9780521428477
ناشر: Cambridge University Press
سال نشر: 1994
تعداد صفحات: 660
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 74 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 31,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ و طیف‌سنجی پروب روبشی: روش‌ها و کاربردها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ و طیف‌سنجی پروب روبشی: روش‌ها و کاربردها
بررسی و دستکاری ماده در مقیاس اتمی با میکروسکوپ تونل زنی روبشی و تکنیک های کاوشگر روبشی مرتبط متحول شده است. این کتاب اولین کتابی است که مقدمه ای روشن و جامع در این زمینه ارائه می کند. با شروع با پیشینه نظری میکروسکوپ تونل زنی روبشی، طراحی و ابزار دقیق STM عملی و سیستم های مرتبط با آن به تفصیل شرح داده شده است، از جمله تصویربرداری توپوگرافی، اندازه گیری ارتفاع مانع تونل زنی محلی، طیف سنجی تونل زنی، و پتانسیومتری محلی. درمان تکنیک‌های تجربی مورد استفاده در میکروسکوپ نیروی روبشی و سایر تکنیک‌های کاوشگر روبشی این بخش را کامل می‌کند. بخش دوم کاربردهای معرف این تکنیک ها را در زمینه هایی مانند فیزیک ماده متراکم، شیمی، علم مواد، زیست شناسی و فناوری نانو مورد بحث قرار می دهد، بنابراین این کتاب برای دانشجویان و محققین رده بالا در این زمینه ها بسیار ارزشمند خواهد بود.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
The investigation and manipulation of matter on the atomic scale have been revolutionized by scanning tunneling microscopy and related scanning probe techniques. This book is the first to provide a clear and comprehensive introduction to this subject. Beginning with the theoretical background of scanning tunneling microscopy, the design and instrumentation of practical STM and associated systems are described in detail, including topographic imaging, local tunneling barrier height measurements, tunneling spectroscopy, and local potentiometry. A treatment of the experimental techniques used in scanning force microscopy and other scanning probe techniques rounds out this section. The second part discusses representative applications of these techniques in fields such as condensed matter physics, chemistry, materials science, biology, and nanotechnology, so this book will be extremely valuable to upper-division students and researchers in these areas.
فهرست مطالب
Cover......Page 1
Frontmatter......Page 2
Contents......Page 10
Preface......Page 16
List of acronyms......Page 20
Introduction......Page 24
Part one - Experimental methods and theoretical background of scanning probe microscopy and spectroscopy......Page 32
1.1 Historical remarks on electron tunneling......Page 34
1.2 Theoretical treatment of one-dimensional electron tunneling......Page 35
1.3 Elastic tunneling experiments with planar metal--insulator--metal junctions......Page 58
1.4 Inelastic electron tunneling in planar metal--insulator--metal junctions......Page 78
1.5 Semiconductor (p--n) junctions: Esaki tunnel diodes......Page 86
1.6 Metal--semiconductor junctions: Schottky barrier tunneling......Page 89
1.7 Point contact spectroscopy (PCS)......Page 91
1.8 Vacuum tunneling before the invention of the STM......Page 96
1.9 The birth of STM......Page 104
1.10 STM design and instrumentation......Page 106
1.11 Topographic imaging by STM......Page 132
1.12 Local tunneling barrier height......Page 154
1.13 Tunneling spectroscopy (TS)......Page 165
1.14 Spin-polarized scanning tunneling microscopy (SPSTM)......Page 180
1.15 Inelastic electron tunneling (IET) in STM......Page 187
1.16 Tunneling-induced luminescence microscopy and spectroscopy......Page 194
1.17 STM with laser excitation......Page 195
1.18 Scanning tunneling potentiometry (STP)......Page 202
1.19 Ballistic electron emission microscopy (BEEM) and spectroscopy (BEES)......Page 206
1.20 Scanning field emission microscopy (SFEM) and spectroscopy (SFES)......Page 213
1.21 Transition to point contact......Page 221
1.22 Forces in STM......Page 227
2.1 Historical remarks on surface force measurements and surface profilometry......Page 233
2.2 The birth of SFM......Page 237
2.3 SFM design and instrumentation......Page 239
2.4 Topographic imaging by SFM in the contance made......Page 249
2.5 Frictional force microscopy (FFM)......Page 254
2.6 Force spectroscopy (FS)......Page 258
2.7 Non-contact force microscopy......Page 264
3 - Related scanning probe methods......Page 288
3.1 Scanning near-field optical microscopy (SNOM)......Page 290
3.2 Scanning near-field acoustic microscopy (SNAM)......Page 296
3.3 Scanning near-field thermal microscopy (SNTM)......Page 298
3.4 Scanning capacitance microscopy (SCAM)......Page 302
3.5 Scanning electrochemical microscopy (SECM)......Page 306
3.6 Scanning micropipette microscopy (SMM)......Page 307
Part two - Applications of scanning probe microscopy and spectroscopy......Page 312
4 - Condensed matter physics......Page 314
4.1 Surface science......Page 315
4.2 Magnetism......Page 445
4.3 Superconductivity......Page 454
4.4 Charge density waves (CDW)......Page 475
5.1 Surface reactions......Page 491
5.2 Electrochemistry......Page 504
6 - Organic material......Page 516
6.1 Thin molecular layers......Page 518
6.2 Molecular crystals......Page 544
6.3 Biomacromolecules......Page 548
7.1 Nanometrology......Page 560
7.2 Quantum standards......Page 562
8 - Nanotechnology......Page 565
8.1 Fabrication of nanometer-scale structures......Page 566
8.2 Nanometer-scale electronic devices......Page 594
8.3 Scanning probe methods combined with microfabrication......Page 597
8.4 Conclusion......Page 603
References......Page 604
Index......Page 648
