دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
دانلود کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی: فیزیک تشکیل تصویر و تجزیه و تحلیل میکرو
مشخصات کتاب
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
ویرایش: 2
نویسندگان: Professor Dr. Ludwig Reimer (auth.)
سری: Springer Series in Optical Sciences 45
ISBN (شابک) : 9783642083723, 9783540389675
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر: 1998
تعداد صفحات: 538
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 19 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 32,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی: فیزیک تشکیل تصویر و تجزیه و تحلیل میکرو: فیزیک حالت جامد، طیف سنجی و میکروسکوپ، فیزیک، عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی: فیزیک تشکیل تصویر و تجزیه و تحلیل میکرو نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی: فیزیک تشکیل تصویر و تجزیه و تحلیل میکرو
میکروسکوپ الکترونی روبشی توضیحی از فیزیک تشکیل پروب الکترون و تعاملات الکترون-نمونه ارائه می دهد. حالت‌های مختلف تصویربرداری و تحلیلی با استفاده از الکترون‌های ثانویه و پراکنده، جریان‌های ناشی از پرتو الکترونی، الکترون‌های اشعه ایکس و اوگر، اثرات کانال‌گذاری الکترون، و کاتدولومینسانس برای ارزیابی تضادهای خاص و به دست آوردن اطلاعات کمی مورد بحث قرار گرفته‌اند.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages I-XIV
Introduction....Pages 1-12
Electron Optics of a Scanning Electron Microscope....Pages 13-56
Electron Scattering and Diffusion....Pages 57-134
Emission of Backscattered and Secondary Electrons....Pages 135-169
Electron Detectors and Spectrometers....Pages 171-205
Image Contrast and Signal Processing....Pages 207-251
Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence....Pages 253-288
Special Techniques in SEM....Pages 289-328
Crystal Structure Analysis by Diffraction....Pages 329-377
Elemental Analysis and Imaging with X-Rays....Pages 379-447
Back Matter....Pages 449-529
