Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologist, Materials Scientist, and Geologists

این کتاب با فرآیندهای انتخاب و گسترش از سلف خود، میکروسکوپ الکترونی روبشی عملی (PSEM)، که توسط Plenum Press در سال 1975 منتشر شد، تکامل یافته است. تعامل نویسندگان با دانشجویان در دوره کوتاه در مورد میکروسکوپ الکترونی روبشی و X- Microanalysis Ray که سالانه در دانشگاه Lehigh برگزار می شود کمک زیادی به توسعه این کتاب درسی کرده است. این ماده انتخاب شده است تا دانش‌آموز را با یک مقدمه کلی با تکنیک‌های میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس مناسب برای کاربرد در زمینه‌هایی مانند زیست‌شناسی، زمین‌شناسی، فیزیک حالت جامد و علم مواد، آشنا کند. با پیروی از فرمت PSEM، این کتاب به دانش آموز دانش پایه ای در مورد (1) عملکردهای کنترل شده توسط کاربر اپتیک الکترونی میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروپروب الکترونی، (2) ویژگی های کنش متقابل پرتو الکترون-نمونه، (3) شکل گیری و تفسیر تصویر، (4) طیف سنجی اشعه ایکس، و (5) میکروآنالیز کمی اشعه ایکس. هر یک از این عناوین به روز شده و در بیشتر موارد بر روی مطالب ارائه شده در PSEM گسترش یافته است تا به خواننده پوشش کافی برای درک این موضوعات و اعمال اطلاعات در آزمایشگاه بدهد. در سرتاسر متن، ما سعی کرده‌ایم بر جنبه‌های عملی تکنیک‌ها تأکید کنیم، و آن پارامترهای ابزاری را توصیف کنیم که میکروسکوپ می‌تواند و باید آن‌ها را برای به دست آوردن اطلاعات بهینه از نمونه دستکاری کند. مناطق خاصی به ویژه در پاسخ به اهمیت روزافزون آنها در زمینه SEM گسترش یافته اند. بنابراین طیف سنجی اشعه ایکس پراکنده انرژی، که دستخوش رشد فوق العاده ای شده است، با جزئیات قابل توجهی درمان می شود.

This book has evolved by processes of selection and expansion from its predecessor, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), published by Plenum Press in 1975. The interaction of the authors with students at the Short Course on Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis held annually at Lehigh University has helped greatly in developing this textbook. The material has been chosen to provide a student with a general introduction to the techniques of scanning electron microscopy and x-ray microanalysis suitable for application in such fields as biology, geology, solid state physics, and materials science. Following the format of PSEM, this book gives the student a basic knowledge of (1) the user-controlled functions of the electron optics of the scanning electron microscope and electron microprobe, (2) the characteristics of electron-beam-sample inter­ actions, (3) image formation and interpretation, (4) x-ray spectrometry, and (5) quantitative x-ray microanalysis. Each of these topics has been updated and in most cases expanded over the material presented in PSEM in order to give the reader sufficient coverage to understand these topics and apply the information in the laboratory. Throughout the text, we have attempted to emphasize practical aspects of the techniques, describing those instru­ ment parameters which the microscopist can and must manipulate to obtain optimum information from the specimen. Certain areas in particular have been expanded in response to their increasing importance in the SEM field. Thus energy-dispersive x-ray spectrometry, which has undergone a tremendous surge in growth, is treated in substantial detail.