دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: 3rd نویسندگان: Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael سری: ISBN (شابک) : 0306472929, 9780306472923 ناشر: Springer سال نشر: 2003 تعداد صفحات: 361 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 166 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس: فیزیک، کارگاه، فیزیک تجربی و روش های تحقیق فیزیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این متن به دانشجویان و همچنین پزشکان مقدمه ای جامع در زمینه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروآنالیز اشعه ایکس ارائه می دهد. نویسندگان بر جنبه های عملی تکنیک های شرح داده شده تأکید دارند. موضوعات مورد بحث شامل عملکردهای کنترل شده توسط کاربر میکروسکوپ های الکترونی روبشی و طیف سنج های اشعه ایکس و استفاده از اشعه ایکس برای تجزیه و تحلیل کمی و کیفی است. فصلهای جداگانه روشهای آمادهسازی نمونه SEM برای مواد سخت، پلیمرها و نمونههای بیولوژیکی را پوشش میدهند. علاوه بر این، تکنیکهای حذف شارژ در نمونههای نارسانا به تفصیل بیان شده است. یک پایگاه داده از پارامترهای مفید برای محاسبات میکرو آنالیز SEM و اشعه ایکس و بهبود فصلهای متن در یک CD همراه موجود است.
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. A database of useful parameters for SEM and X-ray micro-analysis calculations and enhancements to the text chapters are available on an accompanying CD.