دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Rutherford-Rückstreu-Analysen mit Protonen
دانلود کتاب تجزیه و تحلیل پس پراکندگی رادرفورد با پروتون ها
مشخصات کتاب
Rutherford-Rückstreu-Analysen mit Protonen
ویرایش: 1 نویسندگان: Dr. rer. nat. Hans Mommsen, Prof. Dr. rer. nat. Theo Mayer-Kuckuk, Dipl.-Phys. Wilhelm Sarter, Dipl.-Phys. Peter Schürkes, Dipl.-Phys. Albrecht Weller (auth.) سری: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ISBN (شابک) : 9783531029993, 9783322881243 ناشر: VS Verlag für Sozialwissenschaften سال نشر: 1980 تعداد صفحات: 84 زبان: German فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 28,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل پس پراکندگی رادرفورد با پروتون ها: علم، عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب Rutherford-Rückstreu-Analysen mit Protonen به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل پس پراکندگی رادرفورد با پروتون ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل پس پراکندگی رادرفورد با پروتون ها
امروزه آنالیز بک پراکندگی رادرفورد یکی از روش های استاندارد برای بررسی لایه های سطحی است. توانایی آنها در میکروسکوپ عمقی با وضوح عمق 100 A عمدتاً برای بررسی مواد در فناوری نیمه هادی ها و فناوری انرژی هسته ای استفاده می شود. علاقه شدیدی که این روش پیدا کرده است، انتشار این توضیحات آلمانی زبان را مطلوب می کند. اگرچه قابلیت استفاده از پس پراکندگی برای اهداف تجزیه و تحلیل در انرژی های پایین، همانطور که توسط شتاب دهنده های کم انرژی ارائه شده است، به طور خاص در اینجا مورد بررسی قرار می گیرد، این اثر به گونه ای نوشته شده است که می توان آن را به عنوان یک مقدمه کلی برای روش نیز درک کرد. این بر اساس پایان نامه دیپلم توسط آقای A. Weller است، که آنالایزر الکترواستاتیک را ساخته و برنامه شبیه سازی طیف را نوشته است (موسسه تابش و کافیزیک، بن، 1979). - 3 - خلاصه روش پراکندگی برگشتی رادرفورد (RBS) اجازه می دهد تا تجزیه و تحلیل کمی از فویل ها و سطوح نازک با حساسیت بالا و دقت خوب انجام شود. علاوه بر این، اطلاعاتی در مورد توزیع عناصر در یک نمونه به عنوان تابعی از عمق زیر سطح به دست می آید.این امکان اندازه گیری پروفایل عمق به ویژه RBS را از سایر روش های آنالیز فیزیکی متمایز می کند.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Die Rutherford-Rückstreu-Analyse gehÖrt heute zu den Standa- verfahren in der Untersuchung VOn Oberflächenschichten. Ihre Fähigkeit der Tiefenrnikroskopie mit einer Tiefenauflösung von • einigen 100 A wird vor allem zu Materialuntersuchungen in der Halbleitertechnologie und der Kernenergietechnologie genutzt. Das starke Interesse, das diese Methode gefunden hat, läßt es wünschenswert erscheinen, diese deutschsprachige Beschreibung zu veröffentlichen. Obwohl hier speziell die Verwendbarkeit der Rückstreuung zu Analysezwecken bei kleinen Energien, wie sie von Niederenergiebeschleunigern geliefert werden, unt- sucht wird, wurde diese Arbeit so verfaßt, daß sie auch als allgemeine Einführung in die Methode verstanden werden kann. Ihr liegt die Diplomarbeit von Herrn A. Weller zugrunde, der den elektrostatischen Analysator gebaut sowie das Spektrensimu lationsprogramm geschrieben hat (Institut für Strahlen- und Ke- physik, Bonn, 1979). - 3 - Zusammenfassung Die Methode der Rutherford-Rückstreuung (RBS) erlaubt es, quan titative Analysen dünner Folien und Oberflächenanalysen mit hoher Empfindlichkeit und guter Genauigkeit durchzuführen. Zusätzlich wird Information über die Elementverteilung in einer Probe in Abhängigkeit von der Tiefe unter der Oberfläche erhal ten. Besonders diese Möglichkeit der Tiefenprofilmessung zeich net die RBS vor anderen physikalischen Analysemethoden aus.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages I-2
Zusammenfassung....Pages 3-3
Einleitung....Pages 4-6
Rutherford-Rückstreuung....Pages 7-22
Experimenteller Aufbau....Pages 23-43
Spektren-Simulation....Pages 44-53
Anwendungsbeispiele und Diskussion einiger Spektren....Pages 54-73
Schlußbetrachtung....Pages 74-75
Back Matter....Pages 76-83
