دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فن آوری ویرایش: 1 نویسندگان: Chao Huang (auth.), Chao Huang (eds.) سری: Lecture Notes in Electrical Engineering 58 ISBN (شابک) : 9048185394, 9789048185399 ناشر: Springer Netherlands سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 184 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب محاسبات قوی با دستگاه های در مقیاس نانو: پیشرفت ها و چالش ها: مدارها و سیستم ها، نانوتکنولوژی، معماری پردازنده، روش های محاسباتی
در صورت تبدیل فایل کتاب Robust Computing with Nano-scale Devices: Progresses and Challenges به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب محاسبات قوی با دستگاه های در مقیاس نانو: پیشرفت ها و چالش ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
اگرچه فناوری نیمه هادی اکسید فلزی (CMOS) تا 10 تا 15 سال آینده بر مدارهای الکترونیکی دیجیتال تسلط خواهد داشت، اما با کاهش اندازه ترانزیستور، تعدادی چالش بزرگ پدید آمده است. افزایش هزینه های ماسک نیمه هادی و ساخت آن، موانع اقتصادی برای لیتوگرافی ایجاد می کند. اثرات کوانتومی و افزایش قدرت نشتی شروع به تعیین محدودیتهای فیزیکی در کاهش مداوم اندازه ویژگی CMOS میکند.
پیشرفتهای تحقیقاتی دستگاههای نوآورانه در مقیاس نانو فرصتهای بزرگی را برای غلبه بر موانع پیش روی فناوری CMOS ایجاد کرده است که شامل نانوسیمها، ترانزیستورهای نانولولههای کربنی، سوئیچهای مولکولی قابل برنامهریزی، تونل زنی تشدید میشود. دیودها، نقاط کوانتومی و غیره.
با این حال، موفقیت بسیاری از فناوریهای نانو به فرآیند ساخت خودآرایی برای ساخت مدارها بستگی دارد. متأسفانه، ساخت خودآرایی تصادفی دارای قابلیت اطمینان پایین با تراکم نقص چندین مرتبه بالاتر از فناوری CMOS معمولی است.
نانو محاسبات قوی تمرکز بر مسائل مختلف نانو محاسبات قوی، طراحی مقاوم در برابر نقص برای فناوری نانو در سطوح مختلف انتزاع طراحی. این روش به روشهای مبتنی بر افزونگی و پیکربندی و همچنین تکنیکهای تشخیص خطا از طریق توسعه مدلها و ابزارهای محاسباتی دقیق میپردازد. مطالب، دیدگاهی روشنگر از تحقیقات در حال انجام در مورد دستگاههای نانو الکترونیک، مدارها، معماریها و روشهای طراحی ارائه میکند، و همچنین جهتهای امیدوارکنندهای را برای تحقیقات آینده ارائه میدهد.
Although complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) technology will continue dominating the digital electronic circuits for the next 10-15 years, a number of grand challenges have emerged as the transistor size scales down. The rising costs of semiconductor mask and fabrication pose economic barriers to lithography. The quantum effects and increasing leakage power begin setting physical limits on continuous CMOS feature size shrinking.
The research advances of innovative nano-scale devices have created great opportunities to surpass the barriers faced by CMOS technology, which include nanowires, carbon nanotube transistors, programmable molecular switches, resonant tunneling diodes, quantum dots, etc.
However, the success of many nanotechnologies relies on the self-assembly fabrication process to fabricate circuits. The stochastic self-assembly fabrication, unfortunately, has low reliability with defect densities several orders of magnitude higher than conventional CMOS technology.
Robust Nano-Computing focuses on various issues of robust nano-computing, defect-tolerance design for nano-technology at different design abstraction levels. It addresses both redundancy- and configuration-based methods as well as fault detecting techniques through the development of accurate computation models and tools. The contents present an insightful view of the ongoing researches on nano-electronic devices, circuits, architectures, and design methods, as well as provide promising directions for future research.
Front Matter....Pages i-viii
Introduction....Pages 1-5
Fault Tolerant Nanocomputing....Pages 7-27
Transistor-Level Based Defect-Tolerance for Reliable Nanoelectronics....Pages 29-49
Fault-Tolerant Design for Nanowire-Based Programmable Logic Arrays....Pages 51-68
Built-In Self-Test and Defect Tolerance for Molecular Electronics-Based NanoFabrics....Pages 69-98
The Prospect and Challenges of CNFET Based Circuits: A Physical Insight....Pages 99-123
Computing with Nanowires: A Self Assembled Neuromorphic Architecture....Pages 125-136
Computational Opportunities and CAD for Nanotechnologies....Pages 137-173
Back Matter....Pages 175-180