Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

بازار بین‌المللی امروزه برای تولیدکنندگان با فناوری پیشرفته بسیار رقابتی است. دستیابی به کیفیت رقابتی و قابلیت اطمینان برای محصولات مستلزم رهبری از بالا، شیوه های مدیریت خوب، سیستم های بهره برداری و تعمیر و نگهداری موثر و کارآمد و استفاده از ابزارها و روش های مهندسی به روز مناسب است. علاوه بر این، بازده تولید و قابلیت اطمینان به هم مرتبط هستند. بازده تولید بستگی به تعداد عیوب یافت شده در طول فرآیند تولید و دوره گارانتی دارد که به نوبه خود قابلیت اطمینان را تعیین می کند. تولید میکروالکترونیک از اوایل دهه 1970 به یکی از بزرگترین صنایع تولیدی جهان تبدیل شده است. در نتیجه، یک دستور کار مهم، بررسی مسائل مربوط به قابلیت اطمینان در ساخت محصولات میکروالکترونیک و در نتیجه سیستم‌های استفاده‌کننده از این محصولات، به‌ویژه نسل جدید میکروالکترونیک است. چنین دستور کار باید شامل موارد زیر باشد: • تاثیر اقتصادی استفاده از میکروالکترونیک های ساخته شده توسط در صنعت، • مطالعه رابطه بین قابلیت اطمینان و بازده، • پیشرفت به سمت کوچک سازی و قابلیت اطمینان بالاتر، و • صحت و پیچیدگی طراحی های جدید سیستم، که شامل بخش بسیار قابل توجهی از نرم افزار است.

The international market is very competitive for high-tech manufacturers to­ day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader­ ship from the top, good management practices, effective and efficient operation and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date engineering de­ sign tools and methods. Furthermore, manufacturing yield and reliability are interrelated. Manufacturing yield depends on the number of defects found dur­ ing both the manufacturing process and the warranty period, which in turn determines the reliability. the production of microelectronics has evolved into Since the early 1970's, one of the world's largest manufacturing industries. As a result, an important agenda is the study of reliability issues in fabricating microelectronic products and consequently the systems that employ these products, particularly, the new generation of microelectronics. Such an agenda should include: • the economic impact of employing the microelectronics fabricated by in­ dustry, • a study of the relationship between reliability and yield, • the progression toward miniaturization and higher reliability, and • the correctness and complexity of new system designs, which include a very significant portion of software.