برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling

دانلود کتاب فیزیک و مهندسی قابلیت اطمینان: مدل‌سازی زمان تا شکست

مشخصات کتاب

Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling

دسته بندی: فن آوری
ویرایش: 1st Edition. 
نویسندگان: J.W. McPherson (auth.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 1441963472, 9781441963475 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 2010 
تعداد صفحات: 324 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 28,000

کلمات کلیدی مربوط به کتاب فیزیک و مهندسی قابلیت اطمینان: مدل‌سازی زمان تا شکست: کنترل کیفیت، قابلیت اطمینان، ایمنی و ریسک، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، مهندسی مکانیک

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 12

در صورت تبدیل فایل کتاب Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب فیزیک و مهندسی قابلیت اطمینان: مدل‌سازی زمان تا شکست نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xiii
Introduction....Pages 1-3
Materials and Device Degradation....Pages 5-28
From Material/Device Degradation to Time-To-Failure....Pages 29-35
Time-To-Failure Modeling....Pages 37-50
Gaussian Statistics — An Overview....Pages 51-61
Time-To-Failure Statistics....Pages 63-77
Failure Rate Modeling....Pages 79-93
Accelerated Degradation....Pages 95-107
Acceleration Factor Modeling....Pages 109-119
Ramp-to-Failure Testing....Pages 121-136
Time-To-Failure Models for Selected Failure Mechanisms in Integrated Circuits....Pages 137-197
Time-To-Failure Models for Selected Failure Mechanisms in Mechanical Engineering....Pages 199-272
Conversion of Dynamical Stresses into Effective Static Values....Pages 273-298
Increasing the Reliability of Device/Product Designs....Pages 299-310
Erratum to: Materials and Device Degradation....Pages 310-311
Back Matter....Pages 311-318