ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Reliability of multiphysical systems set. Volume 2, Nanometer-scale defect detection using polarized light

دانلود کتاب قابلیت اطمینان مجموعه سیستم های چندفیزیکی جلد 2، تشخیص عیب در مقیاس نانومتر با استفاده از نور پلاریزه

Reliability of multiphysical systems set. Volume 2, Nanometer-scale defect detection using polarized light

مشخصات کتاب

Reliability of multiphysical systems set. Volume 2, Nanometer-scale defect detection using polarized light

ویرایش: 1 
نویسندگان: , ,   
سری: Mechanical Engineering and Solid Mechanics Series 
ISBN (شابک) : 1848219369, 1119329655 
ناشر: Wiley-ISTE 
سال نشر: 2016 
تعداد صفحات: 317 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 10 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 37,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب قابلیت اطمینان مجموعه سیستم های چندفیزیکی جلد 2، تشخیص عیب در مقیاس نانومتر با استفاده از نور پلاریزه: مواد نانوساختار



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 16


در صورت تبدیل فایل کتاب Reliability of multiphysical systems set. Volume 2, Nanometer-scale defect detection using polarized light به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب قابلیت اطمینان مجموعه سیستم های چندفیزیکی جلد 2، تشخیص عیب در مقیاس نانومتر با استفاده از نور پلاریزه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب قابلیت اطمینان مجموعه سیستم های چندفیزیکی جلد 2، تشخیص عیب در مقیاس نانومتر با استفاده از نور پلاریزه

این کتاب روش های مورد استفاده برای تشخیص عیوب مواد در مقیاس نانو را شرح می دهد. نویسندگان نظریه‌های مختلف، حالت‌های پلاریزاسیون و برهمکنش‌های نور با ماده، به‌ویژه تکنیک‌های نوری با استفاده از نور پلاریزه را ارائه می‌کنند.

ترکیب تکنیک‌های تجربی آنالیز نور پلاریزه با تکنیک‌های مبتنی بر مدل‌های نظری یا آماری برای مطالعه گسل‌ها یا رابط‌های مدفون سیستم‌های مکاترونیک، نویسندگان محدوده اعتبار اندازه‌گیری‌های خواص نانولوله‌های کربنی را تعریف می‌کنند. ترکیبی از تئوری و روش های عملی ارائه شده در سراسر این کتاب بینشی را در مورد درک فعلی فرآیندهای فیزیکوشیمیایی موثر بر خواص مواد در مقیاس نانو در اختیار خواننده قرار می دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی