دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Prof.Eng. Titu I. Băjenescu M.Sc., Ph.D. Marius I. Bâzu (auth.) سری: ISBN (شابک) : 9783642636257, 9783642585050 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 1999 تعداد صفحات: 546 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 18 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب قابلیت اطمینان قطعات الکترونیکی: راهنمای عملی برای ساخت سیستم های الکترونیکی: الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، کنترل کیفیت، قابلیت اطمینان، ایمنی و ریسک
در صورت تبدیل فایل کتاب Reliability of Electronic Components: A Practical Guide to Electronic Systems Manufacturing به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب قابلیت اطمینان قطعات الکترونیکی: راهنمای عملی برای ساخت سیستم های الکترونیکی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
هدف این کتاب درک بهتر چرایی خرابی اجزاء است و نیازهای مهندسانی را که اصول قابلیت اطمینان را در طراحی، ساخت، آزمایش و خدمات میدانی به کار میبرند، برطرف میکند. بنابراین به رویکردهای جدید و توسعه قابلیت اطمینان قطعات الکترونیکی و مخابراتی کمک می کند. به عنوان یک منبع مرجع، دانش در مورد حالتهای شکست، تخریب و مکانیسمها، از جمله بررسی تستهای سریع، دستیابی به قابلیت اطمینان بهتر، موضوعات کیفیت کلی، تستهای غربالگری و روشهای پیشبینی را خلاصه میکند. فهرست دقیق، واژه نامه، فهرست های اختصاری، فرهنگ لغت قابل اعتماد و کتابشناسی خاص غنی در اطراف مزایای ارائه شده توسط کتاب. مجموعه های سطح فنی برای دانشجویان ارشد و فارغ التحصیل و همچنین برای کارشناسان و مدیران صنایع.
The objective of this book is to better understand why components fail, addressing the needs of engineers who will apply reliability principles in design, manufacture, testing, and field service. It so contributes to new approaches and the development of electronic and telecommunications component reliability. As a reference source, it summarizes the knowledge on failure modes, degradation and mechanisms, including a survey of accelerated testing, achieving better reliability, total quality topics, screening tests and prediction methods. A detailed index, a glossary, acronym lists, reliability dictionaries and a rich specific bibliography round the benefit offered by the book. The technical level suites to senior and graduate students, as well as to experts and managers in industries.
Front Matter....Pages I-XLI
Introduction....Pages 1-42
State of the art in the reliability of electronic components....Pages 43-92
Reliability of passive electronic parts....Pages 93-144
Reliability of diodes....Pages 145-170
Reliability of silicon power transistors....Pages 171-196
Reliability of thyristors....Pages 197-214
Reliability of monolithic integrated circuits....Pages 215-246
Reliability of hybrid integrated circuits....Pages 247-276
Reliability of memories and microprocessors....Pages 277-312
Reliability of optoelectronic components....Pages 313-328
Noise and reliability....Pages 329-338
Plastic package and reliability....Pages 339-362
Test and testability of logic ICs....Pages 363-380
Failure analysis....Pages 381-412
Appendix....Pages 413-424
Back Matter....Pages 425-509