Reliability Modelling with Information Measures

این کتاب به کاربرد معیارهای مختلف اطلاعات مانند آنتروپی، واگرایی، عدم دقت و غیره در مدل‌سازی طول عمر دستگاه‌ها یا تجهیزات در تحلیل قابلیت اطمینان می‌پردازد. این یک حوزه نوظهور مطالعه و تحقیق در طول دو دهه اخیر است و در بسیاری از زمینه ها مورد توجه بالقوه است. در این کار، معیارهای کلاسیک عدم قطعیت به اندازه کافی اصلاح شده اند تا نیازهای تجزیه و تحلیل داده های مادام العمر را برآورده کنند. این کتاب مجموعه ای جامع از مطالب را در یک جلد ارائه می دهد تا آن را به منبعی جامع تبدیل کند.

اولین رساله در این زمینه. این کار را گرد هم می آورد که در مجلات در رشته های مختلف ظاهر شده است. این به عنوان متنی برای دانشجویان تحصیلات تکمیلی و دست اندرکاران مطالعات ویژه در نظریه اطلاعات و همچنین آمار و به عنوان یک کتاب مرجع برای محققان خواهد بود. این کتاب حاوی مثال‌های گویا، جداول و شکل‌هایی برای شفاف‌سازی مفاهیم و روش‌شناسی است، کتاب مستقل است. این به دانش آموزان کمک می کند تا به اطلاعات مرتبط با مشاغل در صنعت، مهندسی، آمار کاربردی و غیره دسترسی پیدا کنند.

The book deals with the application of various measures of information like the entropy, divergence, inaccuracy, etc. in modelling lifetimes of devices or equipment in reliability analysis. This is an emerging area of study and research during the last two decades and is of potential interest in many fields. In this work the classical measures of uncertainty are sufficiently modified to meet the needs of lifetime data analysis. The book provides an exhaustive collection of materials in a single volume to make it a comprehensive source of reference.

The first treatise on the subject. It brings together the work that have appeared in journals on different disciplines. It will serve as a text for graduate students and practioners of special studies in information theory, as well as statistics and as a reference book for researchers. The book contains illustrative examples, tables and figures for clarifying the concepts and methodologies, the book is self-contained. It helps students to access information relevant to careers in industry, engineering, applied statistics, etc.