ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors

دانلود کتاب تأثیرپذیری و تابش در نیمه هادیهای مرکب

Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors

مشخصات کتاب

Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 981427710X, 9789814277105 
ناشر: World Scientific Publishing Company 
سال نشر: 2010 
تعداد صفحات: 378 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 4 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 38,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 8


در صورت تبدیل فایل کتاب Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تأثیرپذیری و تابش در نیمه هادیهای مرکب نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تأثیرپذیری و تابش در نیمه هادیهای مرکب

این کتاب بر قابلیت اطمینان و اثرات تشعشع در نیمه هادی های ترکیبی تمرکز دارد که در طی 15 سال گذشته به سرعت تکامل یافته اند. با اصول اولیه شروع می‌شود و نشان می‌دهد که چگونه پیشرفت‌ها در طراحی و ساخت دستگاه، بسیاری از مکانیسم‌های قابلیت اطمینان قدیمی را سرکوب کرده است.

این اولین کتابی است که به طور جامع قابلیت اطمینان و اثرات تشعشع را در دستگاه های الکترونیک نوری و همچنین میکروالکترونیک پوشش می دهد. مکانیسم های قابلیت اطمینان نیمه هادی های مرکب را با مکانیسم های دستگاه های مبتنی بر سیلیکون در تضاد قرار می دهد و نشان می دهد که قابلیت اطمینان بسیاری از نیمه هادی های مرکب تا حدی بهبود یافته است که می توانند برای ده سال یا بیشتر با نرخ خرابی پایین استفاده شوند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book focuses on reliability and radiation effects in compound semiconductors, which have evolved rapidly during the last 15 years. It starts with first principles, and shows how advances in device design and manufacturing have suppressed many of the older reliability mechanisms.

It is the first book that comprehensively covers reliability and radiation effects in optoelectronic as well as microelectronic devices. It contrasts reliability mechanisms of compound semiconductors with those of silicon-based devices, and shows that the reliability of many compound semiconductors has improved to the level where they can be used for ten years or more with low failure rates.



فهرست مطالب


Content:
 Front Matter 
• Preface 
• Table of Contents 
 1. Introduction 
 2. Semiconductor Fundamentals 
 3. Transistor Technologies 
 4. Optoelectronics 
 5. Reliability Fundamentals 
 6. Compound Semiconductor Reliability 
 7. Optoelectronic Device Reliability 
 8. Radiation Environments 
 9. Interactions of Radiation with Semiconductors 
 10. Displacement Damage in Compound Semiconductors 
 11. Displacement Damage in Optoelectronic Devices 
 12. Radiation Damage in Optocouplers 
 13. Effects from Single Particles 
 Index




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی