Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices. Methodology and Evaluation

قابلیت اطمینان، استحکام و مکانیسم‌های خرابی دستگاه‌های LED: روش‌شناسی و ارزیابی چندین روش برای تعیین قابلیت اطمینان LED‌های مادون قرمز ارائه می‌کند. این کتاب بر روش استخراج پارامترهای اساسی از مشخصات الکتریکی و نوری تمرکز دارد. نویسندگان پارامترهای مختلف مربوط به مناطق خاص را در قطعات شناسایی کرده و سپس مکانیسم‌های شکست را بر اساس عملکرد اندازه‌گیری شده - قبل و بعد از تست‌های پیری استخراج می‌کنند. دانش مکانیزم‌های خرابی به شما امکان می‌دهد قوانین تخریب مربوط به معادله فیزیک را استخراج کنید تا بتوان توزیع طول عمر دقیقی را پیشنهاد کرد.

• به طور انحصاری با قابلیت اطمینان، بر اساس فیزیک خرابی LED‌های مادون قرمز سروکار دارد.
• مکانیسم های خرابی، توزیع طول عمر و انتخاب بهترین جزء برای برنامه های کاربردی اختصاصی را شناسایی می کند
• از یک روش کامل برای کاهش تعداد نمونه های مورد نیاز برای تخمین توزیع طول عمر استفاده می کند
• < li>روی روش استخراج پارامترهای اساسی از مشخصات الکتریکی و نوری تمرکز دارد

Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation presents several methods to determine the reliability of infrared LEDs. The book focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations. The authors identify different parameters related to specific zones in components and then extract failure mechanisms based on measured performance―before and after aging tests. The knowledge of failure mechanisms allows you to extract degradation laws related to a physics equation so an accurate lifetime distribution can then be proposed.

• Deals exclusively with reliability, based on the physics of failure for infrared LEDs
• Identifies failure mechanisms, lifetime distribution, and selection of the best component for dedicated applications
• Uses a complete methodology to reduce the number of samples needed to estimate lifetime distribution
• Focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations