ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Reflexionsspektroskopie: Grundlagen, Methodik, Anwendungen

دانلود کتاب بازتاب های اسپکروسکوپی: Grundlagen، Methodik، Anwendungen

Reflexionsspektroskopie: Grundlagen, Methodik, Anwendungen

مشخصات کتاب

Reflexionsspektroskopie: Grundlagen, Methodik, Anwendungen

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9783662282700, 9783662297889 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 1969 
تعداد صفحات: 386 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب بازتاب های اسپکروسکوپی: Grundlagen، Methodik، Anwendungen: طیف سنجی / طیف سنجی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 2


در صورت تبدیل فایل کتاب Reflexionsspektroskopie: Grundlagen, Methodik, Anwendungen به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب بازتاب های اسپکروسکوپی: Grundlagen، Methodik، Anwendungen نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب بازتاب های اسپکروسکوپی: Grundlagen، Methodik، Anwendungen

طیف سنجی بازتابی، بررسی تابش منعکس شده از یک سطح با توجه به ترکیب طیفی آن در مقایسه با ترکیب تابش اولیه فرودی و توزیع زاویه ای توان تابشی است. دو مورد مرزی در اینجا مهم است: یا مسئله انعکاس منظم (اختصاصی) از یک سطح ایده‌آل صاف است، یا مسئله انعکاس پراکنده از یک سطح ایده‌آل مات است. در عمل، همه انتقال های ممکن بین دو مورد مرزی وجود دارد. مطابق با این موارد مرزی، دو روش اساساً متفاوت برای طیف‌سنجی بازتابی وجود دارد: یکی شامل محاسبه ثابت‌های نوری n (ضریب شکست) و x (شاخص جذب) ماده مورد نظر از بازتاب منظم اندازه‌گیری شده با استفاده از معادلات فرنل در Ab A است. . این روش قدیمی‌تر و بسته به طول موج، دست و پا گیر، که نتایج بسیار دقیقی نیز ارائه نمی‌دهد، اخیراً توسط فارنفورت اصلاح شده است به این صورت که از هوای سطح مرز فاز / نمونه برای انعکاس استفاده نمی‌شود، بلکه از مرز فاز بین یک دی الکتریک با قدرت انکسار بالاتر ( nd و نمونه ( n . اگر نمونه جذب نشود، بازتاب کامل بالای یک زاویه تابش مشخص مشاهده می شود. 2 با این وجود، وقتی دو فاز در تماس نزدیک (نوری) هستند، مقدار کمی از انرژی در نتیجه پدیده های پراش در لبه های فاز پرتو وارد نازک تر می شود، اما جریان انرژی در هر دو جهت از طریق مرز فاز یکسان است، به طوری که بازتاب کل پیدا می شود. از طرف دیگر، اگر نمونه جذب می شود، بخشی از انرژی تابشی منتقل شده از بین می رود و بازتاب کلی ضعیف می شود.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Unter Reflexionsspektroskopie versteht man die Untersuchung der von einer Oberfläche reflektierten Strahlung in bezug auf ihre spektrale Zusammensetzung im Vergleich zu der Zusammensetzung der einfallen­ den Primärstrahlung und auf die Winkelverteilung der Strahlungsleistung. Zwei Grenzfälle sind dabei wichtig: Entweder es handelt sich um reguläre (Spiegel-) Reflexion von einer ideal ebenen Oberfläche, oder es handelt sich um diffuse Reflexion von einer ideal matten Oberfläche. Zwischen beiden Grenzfallen gibt es in Praxis alle möglichen Übergänge. Ent­ sprechend diesen Grenzfallen gibt es zwei prinzipiell verschiedene Metho­ den der Reflexionsspektroskopie: Die eine besteht darin, aus der gemessenen regulären Reflexion die optischen Konstanten n (Brechungsindex) und x (Absorptionsindex) des betreffenden Stoffes mit Hilfe der Fresnelschen Gleichungen in Ab­ A. zu berechnen. Dieses ältere und recht hängigkeit von der Wellenlänge umständliche Verfahren, das außerdem keine sehr genauen Resultate liefert, ist neuerdings von Fahrenfort insofern modifiziert worden, als man für die Reflexion nicht die Phasengrenzfläche Luft/Probe benutzt, sondern die Phasengrenze zwischen einem Dielektrikum höheren Bre­ chungsvermögens (nd und der Probe (n ). Absorbiert die Probe nicht, so 2 beobachtet man oberhalb eines bestimmten Einfallswinkels Total­ reflexion. Trotzdem tritt bei engem (optischen) Kontakt der beiden Phasen doch eine geringe Energie infolge von Beugungserscheinungen an den Rändern des Bündels in die dünnere Phase über, jedoch ist der Energiefluß in beiden Richtungen durch die Phasengrenze hindurch gleich groß, so daß man Totalreflexion findet. Absorbiert dagegen die Probe, so geht ein Teil der überführten Strahlungsenergie verloren, die Totalreflexion wird geschwächt.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages I-VIII
Einführung....Pages 1-4
Reguläre und diffuse Reflexion....Pages 5-73
Einfach- und Mehrfachstreuung....Pages 74-105
Phänomenologische Theorien der Absorption und Streuung dicht gepackter Teilchen....Pages 106-174
Experimentelle Prüfung der Kubelka-Munk-Theorie....Pages 175-222
Methodik....Pages 223-260
Anwendungen....Pages 261-319
Reflexionsspektren aus geschwächter Totalreflexion....Pages 320-349
Back Matter....Pages 350-378




نظرات کاربران