ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

دانلود کتاب میکروسکوپ الکترونی بازتابی و طیف سنجی برای تجزیه و تحلیل سطح

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

مشخصات کتاب

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

دسته بندی: فیزیک
ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 0521017955, 9780521017954 
ناشر:  
سال نشر: 2005 
تعداد صفحات: 456 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 67 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 35,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ الکترونی بازتابی و طیف سنجی برای تجزیه و تحلیل سطح: فیزیک، کارگاه، فیزیک تجربی و روش های تحقیق فیزیکی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 22


در صورت تبدیل فایل کتاب Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی بازتابی و طیف سنجی برای تجزیه و تحلیل سطح نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ الکترونی بازتابی و طیف سنجی برای تجزیه و تحلیل سطح

این کتاب مروری جامع بر نظریه‌ها، تکنیک‌ها و کاربردهای میکروسکوپ الکترونی بازتابی (REM)، پراش الکترونی با انرژی بالا (RHEED) و طیف‌سنجی از دست دادن انرژی الکترون بازتابی (REELS) است. این کتاب به سه بخش تقسیم شده است: پراش، تصویربرداری و طیف‌سنجی. متن برای ترکیب تکنیک‌های پایه با کاربردهای خاص، تئوری‌ها با آزمایش‌ها و فیزیک پایه با علم مواد نوشته شده است تا تصویر کاملی از RHEED و REM پدیدار شود. این کتاب که یک مطالعه کاملا مستقل است، حاوی مطالب مرجع بسیار ارزشمندی است، از جمله کدهای منبع FORTRAN برای محاسبه داده‌های ساختارهای کریستالی و طیف‌های از دست دادن انرژی الکترون در هندسه‌های پراکندگی مختلف. این ویژگی و بسیاری ویژگی های دیگر باعث می شود که این کتاب به مضمونی مهم و به موقع در ادبیات علم مواد برای محققان و دانشجویان فارغ التحصیل رشته فیزیک و علم مواد تبدیل شود.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book is a comprehensive review of the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS). The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy-loss spectra in different scattering geometries. This and many other features makes the book an important and timely addition to the materials science literature for researchers and graduate students in physics and materials science.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی