دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: I. Padron
سری:
ISBN (شابک) : 9789535104049
ناشر: Intech
سال نشر: 2012
تعداد صفحات: 230
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 25 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Recent Interferometry Applns. in Topography, Astronomy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تداخل سنج های اخیر در توپوگرافی ، نجوم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب مروری کلی بر جنبههای نظری و تجربی برخی از تکنیکهای تداخل سنجی به کار رفته در توپوگرافی و نجوم ارائه میکند. دو فصل اول شامل تکنیک های تداخل سنجی است که برای اندازه گیری دقیق توپوگرافی سطح در کاربردهای مهندسی استفاده می شود. در حالی که فصل های سوم تا هشتم به کاربردهای تداخل سنجی مربوط به توپوگرافی زمین اختصاص دارد. فصل آخر کاربرد تداخل سنجی در نجوم است که به طور خاص برای تشخیص سیارات خارج از منظومه شمسی ما انجام می شود. هر فصل فرصتی برای گسترش دانش در مورد تکنیک های تداخل سنجی و تشویق محققان در توسعه کاربردهای تداخل سنجی جدید ارائه می دهد.
This book provides a current overview of the theoretical and experimental aspects of some interferometry techniques applied to Topography and Astronomy. The first two chapters comprise interferometry techniques used for precise measurement of surface topography in engineering applications; while chapters three through eight are dedicated to interferometry applications related to Earth's topography. The last chapter is an application of interferometry in Astronomy, directed specifically to detection of planets outside our solar system. Each chapter offers an opportunity to expand the knowledge about interferometry techniques and encourage researchers in development of new interferometry applications.