Rapid Reliability Assessment of VLSICs

کاربرد روزافزون مدارهای مجتمع در شرایطی که به قابلیت اطمینان بالا نیاز است، تولیدکننده را ملزم به استفاده از روش‌های آزمایش برای حذف دستگاه‌هایی می‌کند که ممکن است در سرویس‌دهی از کار بیفتند. یک رویکرد ممکن که در این کتاب توضیح داده شده است، انجام اندازه‌گیری‌های الکتریکی دقیق است که ممکن است احتمال خرابی آن دستگاه‌ها را آشکار کند. اندازه‌گیری‌های ارزیابی‌شده مربوط به پارامترهای مدار آنالوگ است که بر اساس دانش مکانیزم‌های خرابی، ممکن است نشان‌دهنده خرابی در آینده باشد. . برای گنجاندن این آزمایش‌ها در فهرست عملکردی مدارهای مجتمع در مقیاس بسیار بزرگ، باید به حساسیت تست‌هایی که در آن تعداد کمی از دستگاه‌ها ممکن است در یک مدار پیچیده معیوب باشند، توجه شود. علاوه بر این، آزمون‌ها در حالت ایده‌آل باید به حداقل زمان آزمایش اضافی نیاز داشته باشند. طیف وسیعی از آزمون‌ها با شبیه‌سازی مورد استفاده برای ارزیابی حساسیت اندازه‌گیری‌ها ارزیابی و مقایسه شده‌اند. سایر کارها در این زمینه در پایان هر فصل به طور کامل ارجاع داده شده است. تیم لنکستر مسئول این کتاب مایل است از اداره Alvey و SERe برای حمایت و تشویق لازم برای انتشار نتایج ما تشکر کند. ما همچنین می خواهیم از جان هندرسون، که اخیراً از آزمایشگاه های تحقیقاتی مخابرات بریتانیا بازنشسته شده است، برای تشویق های شاد و مشتاق او تشکر کنیم. از Trevor Ingham که اکنون در نیوزلند است، به خاطر کار اولیه خود در این پروژه تشکر می شود.

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service. One possible approach that is described in this book is to make precise electrical measurements that may reveal those devices more likely to fail. The measurements assessed are of analog circuit parameters which, based on a knowledge of failure mechanisms, may indicate a future failure. . To incorporate these tests into the functional listing of very large scale integrated circuits consideration has to be given to the sensitivity of the tests where small numbers of devices may be defective in a complex circuit. In addition the tests ideally should require minimal extra test time. A range of tests has been evaluated and compared with simulation used to assess the sensitivity of the measurements. Other work in the field is fully referenced at the end of each chapter. The team at Lancaster responsible for this book wish to thank the Alvey directorate and SERe for the necessary support and encouragement to publish our results. We would also like to thank John Henderson, recently retired from the British Telecom Research Laboratories, for his cheerful and enthusiastic encouragement. Trevor Ingham, now in New Zealand, is thanked for his early work on the project.