دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Nuclear and Space Radiation Effects Conference Short Course Notebook 2001
سری:
ناشر:
سال نشر:
تعداد صفحات: 375
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 4 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Radiation Effects in Advanced Microelectronics: Issues for SOI, Bipolar, and CMOS Technologies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثرات تابش در میکروالکترونیک پیشرفته: مسائل مربوط به SOI، دو قطبی و تکنولوژی CMOS نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
CD Home Page......Page 0
2001 Home......Page 1
Table of Contents......Page 3
Section I - Introduction......Page 4
Section II - Silicon-on-Insulator Technology: Overview and Device Physics......Page 10
Section III - Silicon-on-Insulator Technologies: Radiation Effects......Page 81
Section IV - Physics and Hardness Assurance for Bipolar Technologies......Page 202
Section V - Single-Event Transients in Fast Electronic Circuits......Page 270