Quantitative X-Ray Diffractometry

یکی از مهم ترین تکنیک ها برای تعیین ساختار اتمی یک ماده، پراش اشعه ایکس است. با این حال، یکی از مشکلات بزرگ این تکنیک، این واقعیت است که فقط شدت الگوی پراش قابل اندازه گیری است، نه فاز آن. بنابراین، مشکل معکوس، تعیین ساختار از روی الگو، حاوی ابهاماتی است که باید با ابزارهای دیگر حل شوند. تجزیه و تحلیل کمی اشعه ایکس یک راه برای حل این مشکل فاز ارائه می دهد: مخلوط کردن ماده مورد نظر با ماده ای با ساختار شناخته شده تداخل هایی را ایجاد می کند که می تواند برای تولید فازهای ناشناخته تجزیه و تحلیل شود. این تکنیک که در سال 1916 اختراع شد، اما در آن زمان کمتر مورد استفاده قرار گرفت، به دلیل توسعه پراش سنج های بسیار دقیق پرتو ایکس همراه با رایانه های قدرتمند، اخیرا احیا شده است.

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.