دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Dipl.-Ing. Dr. rer. nat. Roger Theisen (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783662231302, 9783662251065
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر: 1965
تعداد صفحات: 173
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 10 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل میکروپروب الکترونی کمی: الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، شیمی تجزیه
در صورت تبدیل فایل کتاب Quantitative Electron Microprobe Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل میکروپروب الکترونی کمی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Electron "licroprobe X-!{ay Analyscr conceivcd b' R C.\S'L\I: \G and A. Cl'!: '\ lEI( در سال 1949 به عنوان یک ابزار فوق العاده قدرتمند توسعه یافته است. در آنالیز spcctrochcmical برای طیف گستردهای از کاربردها، از مطالعات توزیع کیفی elcmcntary، تا تجزیه و تحلیل کوانتیتاتین بسیار محلی در مقیاس یک میکرون. فیزیک حالت جامد، کانی شناسی و زمین شناسی، زیست شناسی و پزشکی، هنر و باستان شناسی - به سرعت در حال گسترش است، به ویژه به این دلیل که می توان به تحلیل های کمی قابل اعتماد دست یافت. - یعنی نسبت شدت تشعشعات پرتو ایکس مشخصه ساطع شده تحت شرایط آزمایشی یکسان توسط نمونه و یک استاندارد کالیبراسیون - مستقیماً با غلظت جرم اولیه مرتبط نیست. استفاده از wi مقیاس استانداردهای کالیبراسیون همگن با دقت تهیه شده به طور کلی بسیار خسته کننده و محدود به سیستم های باینار است. برای نمونههای پیچیدهتر، تبدیل نسبتهای شدت x-ra) به غلظت جرم اولیه، علاوه بر انتخاب دقیق شرایط آزمایشی، نیازمند یک محاسبه اصلاحی کافی برای در نظر گرفتن پدیدههای فیزیکی مختلفی است که در الکترون رخ میدهند. عقب ماندگی، عقب نشینی الکترون، کارایی تحریک اشعه ایکس، افزایش فلورسانس توسط تشعشعات بی سابقه و پیوسته و جذب جرم اشعه ایکس.
The Electron "licroprobe X-!{ay Analyscr conceivcd b ' R C.\S'L\I: \G and A. Cl'!: '\ lEI( in 1949 has been developcd as an extremelv po\\'crful tool in spcctrochcmical analysis for a wide range of applications, ranging from qualitative elcmcntary distribution studies, to highly localiscd quantitatin analysis on a one micron scale. \\'ith the increasing number oi' versatile instruments, commcrcially available, the domain of applications - in metallurgy, solid state physics, mineralogy and geology, biology and medicine, arts and archeology - is rapidly expanding, particularly because reliable quantitative analyses can be achieved. It is well established that in multicomponent specimens, the relative x-ray intensity generated by the electron bombardment - i.e. the intensity ratio of the characteristic x-ray radiation emitted under identical experimental conditions by the specimen and a calibration standard - is not directly correlated to the elementary mass concentration. The use of a wide scale of carefully prepared homogeneous calibration standards is generally very tedious and restricted to binar)' systems. For more complex specimens, the conversion of recorded x-ra)' intensity ratios to elementary mass concentration requires, besides carefule selection of experimental conditions, an adequate correction calculation to take account oi' the various physical phenomenas occurring in the tarp;et - electron retardation, electron backseattering, x-ray excitation efficieney, fluorescence enhaneement by eharaeteristic and continuous radiation and x-ray mass absorption.
Front Matter....Pages i-iv
General Features of Electron Microprobe Analysis....Pages 1-6
Fundamentals of Quantitative Electron Microprobe Analysis....Pages 6-11
Procedures for Correction Calculation....Pages 11-22
Detection Limit, Detection Threshold and Microprobe Trace Analysis....Pages 22-24
Back Matter....Pages 24-170