مشخصات کتاب

Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy. SPM Applications for Nanometrology

ویرایش:  
نویسندگان: Petr Klapetek (Auth.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9781455730582 
ناشر: William Andrew 
سال نشر: 2012 
تعداد صفحات: 316 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 8 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy. SPM Applications for Nanometrology به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب پردازش کمی داده ها در میکروسکوپ پروب اسکن. برنامه های SPM برای نانومتر شناسی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب پردازش کمی داده ها در میکروسکوپ پروب اسکن. برنامه های SPM برای نانومتر شناسی

اندازه‌گیری دقیق در مقیاس نانو - نانومترولوژی - یک ابزار حیاتی برای کاربردهای فناوری نانو پیشرفته است، جایی که مقادیر دقیق و دقت مهندسی فراتر از قابلیت‌های تکنیک‌ها و ابزار اندازه‌گیری سنتی است. میکروسکوپ کاوشگر اسکن (SPM) تصویری از یک نمونه را با اسکن با یک پروب فیزیکی ایجاد می کند. رزولوشن قابل حصول با طول موج نور یا الکترون ها مهار نشده با این روش می تواند اتم ها را تجزیه کند. ابزارهای SPM شامل میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپ تونل روبشی (STM) است. علیرغم پیشرفت‌های فوق‌العاده در میکروسکوپ کاوشگر روبشی (SPM) در بیست سال گذشته، پتانسیل آن به عنوان یک ابزار اندازه‌گیری کمی به‌دلیل چالش‌هایی مانند پیچیدگی تعامل نوک/نمونه، به‌طور کامل شناخته نشده است. در این کتاب، پتر کلاپتک از آخرین تحقیقات برای باز کردن قفل SPM به عنوان ابزاری برای نانومترولوژی در زمینه‌های متنوعی مانند نانوتکنولوژی، فیزیک سطح، مهندسی مواد، اپتیک لایه نازک و علوم زیستی استفاده می‌کند. تجربه قابل توجه کلاپتک از پردازش داده های کمی، با استفاده از ابزارهای نرم افزاری، او را قادر می سازد تا نه تنها تکنیک های میکروسکوپی را توضیح دهد، بلکه تجزیه و تحلیل و تفسیر داده های جمع آوری شده را نیز رمزگشایی کند. علاوه بر اصول اساسی و تئوری اندازه‌شناسی SPM، Klapetek تعدادی نمونه کار شده را برای نشان دادن روش‌های معمولی برای حل مسائل در تجزیه و تحلیل SPM در اختیار خوانندگان قرار می‌دهد. داده های منبع برای مثال ها و همچنین بیشتر ابزارهای نرم افزار منبع باز شرح داده شده در یک وب سایت همراه موجود است.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Accurate measurement at the nano-scale - nanometrology - is a critical tool for advanced nanotechnology applications, where exact quantities and engineering precision are beyond the capabilities of traditional measuring techniques and instruments. Scanning Probe Microscopy (SPM) builds up a picture of a specimen by scanning with a physical probe; unrestrained by the wavelength of light or electrons, the resolution obtainable with this technique can resolve atoms. SPM instruments include the Atomic Force Microscope (AFM) and Scanning Tunneling Microscope (STM). Despite tremendous advances in Scanning Probe Microscopy (SPM) over the last twenty years, its potential as a quantitative measurement tool have not been fully realized, due to challenges such as the complexity of tip/sample interaction. In this book, Petr Klapetek uses the latest research to unlock SPM as a toolkit for nanometrology in fields as diverse as nanotechnology, surface physics, materials engineering, thin film optics, and life sciences. Klapetek's considerable experience of Quantitive Data Processing, using software tools, enables him to not only explain the microscopy techniques, but also to demystify the analysis and interpretation of the data collected. In addition to the essential principles and theory of SPM metrology, Klapetek provides readers with a number of worked examples to demonstrate typical ways of solving problems in SPM analysis. Source data for the examples as well as most of the described open source software tools are available on a companion website.

فهرست مطالب

Content: 
Front Matter, Pages i-ii
Copyright, Page iv
Preface, Page xi
Chapter 1 - Motivation, Pages 1-16
Chapter 2 - Instrumentation Principles, Pages 17-33
Chapter 3 - Data Models, Pages 35-53
Chapter 4 - Basic Data Processing, Pages 55-80
Chapter 5 - Dimensional Measurements, Pages 81-125
Chapter 6 - Force and Mechanical Properties, Pages 127-172
Chapter 7 - Friction and Lateral Forces, Pages 173-189
Chapter 8 - Electrostatic Fields, Pages 191-205
Chapter 9 - Magnetic Fields, Pages 207-219
Chapter 10 - Local Current Measurements, Pages 221-245
Chapter 11 - Thermal Measurements, Pages 247-264
Chapter 12 - Optical Measurements, Pages 265-293
Chapter 13 - Sample Data Files, Pages 295-296
Chapter 14 - Numerical Modeling Techniques, Pages 297-317
Index, Pages 319-321

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Governing societies: political perspectives on domestic and international rule

دانلود کتاب Fracture and Fatigue Control in Structures - Applications of Fracture Mechanics:

دانلود کتاب Royal Australian Air Force Camouflage and Markings, 1939-45 vol 1

دانلود کتاب Conversations on Love

دانلود کتاب Азыркы кыргыз тили. Лексика