دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Eugene P. Bertin (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9781461344186, 9781461344162
ناشر: Springer US
سال نشر: 1975
تعداد صفحات: 1097
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 23 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اصول و عملکرد آنالیز طیف سنجی اشعه ایکس: شیمی تجزیه
در صورت تبدیل فایل کتاب Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اصول و عملکرد آنالیز طیف سنجی اشعه ایکس نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
از زمانی که اولین ویرایش این کتاب در اوایل سال 1970 منتشر شد، سه پیشرفت عمده در زمینه تجزیه و تحلیل طیفشیمیایی اشعه ایکس رخ داده است. اول، طیف سنجی پراکندگی طول موج، که در سال 1970 به طور ایمن در میان روش های تحلیلی ابزاری ایجاد شده بود، به بلوغ رسیده است. مدارهای بسیار پیچیده، مینیاتوری، مدولار و حالت جامد جایگزین مدارهای لامپ الکتریکی در سیستم بازخوانی شده است. رایانهها اکنون به طور گسترده برای برنامهریزی و کنترل طیفسنجهای کاملاً خودکار و ذخیره، پردازش و محاسبه غلظتهای تحلیلی بهطور مستقیم و فوری از دادههای شمارش انباشته ac استفاده میشوند. اثرات ماتریسی تا حد زیادی به درمان ریاضی تسلیم شده است. مشکلات مربوط به منطقه با طول موج فوقالعاده تا حد زیادی برطرف شده است. روشهای غیرمستقیم (تداعی) کاربرد طیفسنجی پرتو ایکس را در کل جدول تناوبی و حتی برای کلاسهای خاصی از ترکیبات گسترش دادهاند. طیفسنجهای مدرن تجاری، کامپیوتری، خودکار و همزمان اشعه ایکس میتوانند تا 60 نمونه را به نوبه خود در موقعیت اندازهگیری نمایه کنند و برای هر کدام دادههای شمارش را برای حداکثر 30 عنصر جمعآوری کنند و نتایج تحلیلی را در 1-4 دقیقه تمام بخوانند. اصلاح شده برای افزایش جذب و اثرات اندازه ذرات یا بافت سطحی و کاملاً بدون مراقبت. آمادهسازی نمونه مدتها مرحله محدودکننده زمانی در آنالیز طیفشیمیایی اشعه ایکس بوده است. دوم، طیفسنجی پراکنده انرژی، که در سال 1970 تنها جایگاه خود را در میان روشهای تحلیلی ابزاری به خود اختصاص داد، توسعه و کاربرد خارقالعادهای را تجربه کرد و برخی معتقدند، ممکن است جایگزین طیفسنجی طول موج برای اکثر کاربردها در آینده قابل پیشبینی شود.
Since the first edition of this book was published early in 1970, three major developments have occurred in the field of x-ray spectrochemical analysis. First, wavelength-dispersive spectrometry, in 1970 already securely established among instrumental analytical methods, has matured. Highly sophisticated, miniaturized, modular, solid-state circuitry has replaced elec tron-tube circuitry in the readout system. Computers are now widely used to program and control fully automated spectrometers and to store, process, and compute analytical concentrations directly and immediately from ac cumulated count data. Matrix effects have largely yielded to mathematical treatment. The problems associated with the ultralong-wavelength region have been largely surmounted. Indirect (association) methods have extended the applicability of x-ray spectrometry to the entire periodic table and even to certain classes of compounds. Modern commercial, computerized, auto matic, simultaneous x-ray spectrometers can index up to 60 specimens in turn into the measurement position and for each collect count data for up to 30 elements and read out the analytical results in 1--4 min-all corrected for absorption-enhancement and particle-size or surface-texture effects and wholly unattended. Sample preparation has long been the time-limiting step in x-ray spectrochemical analysis. Second, energy-dispersive spectrometry, in 1970 only beginning to assume its place among instrumental analytical methods, has undergone phenomenal development and application and, some believe, may supplant wavelength spectrometry for most applications in the foreseeable future.
Front Matter....Pages i-xxxii
Front Matter....Pages 1-1
Excitation and Nature of X-Rays; X-Ray Spectra....Pages 3-49
Properties of X-Rays....Pages 51-85
Front Matter....Pages 87-87
X-Ray Secondary-Emission (Fluorescence) Spectrometry; General Introduction....Pages 89-112
Excitation....Pages 113-160
Dispersion....Pages 161-217
Detection....Pages 219-284
Measurement....Pages 285-314
Pulse-Height Selection; Energy-Dispersive Analysis; Nondispersive Analysis....Pages 315-403
Laboratory, Automated, and Special X-Ray Spectrometers....Pages 405-433
Front Matter....Pages N3-N3
Qualitative and Semiquantitative Analysis....Pages 435-457
Front Matter....Pages N5-N5
Precision and Error; Counting Statistics....Pages 459-500
Matrix Effects....Pages 501-527
Sensitivity and Resolution; Spectral-Line Interference....Pages 529-567
Front Matter....Pages 569-569
Methods of Quantitative Analysis....Pages 571-641
Mathematical Correction of Absorption-Enhancement Effects....Pages 643-697
Front Matter....Pages 699-699
Specimen Preparation and Presentation—General; Solids, Powders, Briquets, Fusion Products....Pages 701-762
Specimen Preparation and Presentation—Liquids; Supported Specimens....Pages 763-807
Front Matter....Pages 809-809
Measurement of Thickness of Films and Platings....Pages 811-828
Selected-Area Analysis....Pages 829-858
Other Analytical Methods Based on Emission, Absorption, and Scatter of X-Rays; Other Spectrometric Methods Involving X-Rays....Pages 859-901
Front Matter....Pages 809-809
Electron-Probe Microanalysis....Pages 903-945
Back Matter....Pages 947-1079