دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1st ed.
نویسندگان: Prabhat Mishra. Farimah Farahmandi
سری:
ISBN (شابک) : 9783319981154
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2019
تعداد صفحات: 393
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 17 مگابایت
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اعتبار سنجی و اشکال زدایی پس از سیلیکون: مهندسی، مدارها و سیستم ها، معماری پردازنده، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق
در صورت تبدیل فایل کتاب Post-Silicon Validation and Debug به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اعتبار سنجی و اشکال زدایی پس از سیلیکون نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Front Matter ....Pages i-xv
Front Matter ....Pages 1-1
Post-Silicon SoC Validation Challenges (Farimah Farahmandi, Prabhat Mishra)....Pages 3-16
Front Matter ....Pages 17-17
SoC Instrumentations: Pre-Silicon Preparation for Post-Silicon Readiness (Sandip Ray)....Pages 19-32
Structural Signal Selection for Post-Silicon Validation (Kanad Basu)....Pages 33-56
Simulation-Based Signal Selection (Debapriya Chatterjee, Valeria Bertacco)....Pages 57-75
Hybrid Signal Selection (Azadeh Davoodi)....Pages 77-85
Post-Silicon Signal Selection Using Machine Learning (Alif Ahmed, Kamran Rahmani, Prabhat Mishra)....Pages 87-107
Front Matter ....Pages 109-109
Observability-Aware Post-Silicon Test Generation (Farimah Farahmandi, Prabhat Mishra)....Pages 111-123
On-Chip Constrained-Random Stimuli Generation (Xiaobing Shi, Nicola Nicolici)....Pages 125-144
Test Generation and Lightweight Checking for Multi-core Memory Consistency (Doowon Lee, Valeria Bertacco)....Pages 145-178
Selection of Post-Silicon Hardware Assertions (Pouya Taatizadeh, Nicola Nicolici)....Pages 179-208
Front Matter ....Pages 209-209
Debug Data Reduction Techniques (Sandeep Chandran, Preeti Ranjan Panda)....Pages 211-229
High-Level Debugging of Post-Silicon Failures (Masahiro Fujita, Qinhao Wang, Yusuke Kimura)....Pages 231-253
Post-Silicon Fault Localization with Satisfiability Solvers (Georg Weissenbacher, Sharad Malik)....Pages 255-273
Coverage Evaluation and Analysis of Post-Silicon Tests with Virtual Prototypes (Kai Cong, Fei Xie)....Pages 275-306
Utilization of Debug Infrastructure for Post-Silicon Coverage Analysis (Farimah Farahmandi, Prabhat Mishra)....Pages 307-321
Front Matter ....Pages 323-323
Network-on-Chip Validation and Debug (Subodha Charles, Prabhat Mishra)....Pages 325-342
Post-Silicon Validation of the IBM POWER8 Processor (Tom Kolan, Hillel Mendelson, Amir Nahir, Vitali Sokhin)....Pages 343-363
Front Matter ....Pages 365-365
SoC Security Versus Post-Silicon Debug Conflict (Yangdi Lyu, Yuanwen Huang, Prabhat Mishra)....Pages 367-384
The Future of Post-Silicon Debug (Farimah Farahmandi, Prabhat Mishra)....Pages 385-390
Back Matter ....Pages 391-394