Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions

این کتاب اصول و تکنیک‌های طیف‌سنجی رزونانس پارامغناطیس الکترونی مدرن (EPR) را معرفی می‌کند که برای کاربردهای مورد استفاده برای تعیین ساختارهای نقص میکروسکوپی ضروری است. بسیاری از روش های تشدید مغناطیسی مختلف برای بررسی خواص میکروسکوپی و الکترونیکی جامدات و کشف همبستگی بین این ویژگی ها مورد نیاز است. علاوه بر EPR، چنین روش‌هایی شامل تشدید دوگانه هسته‌ای الکترون (ENDOR)، EPR شناسایی شده به صورت الکترونیکی و نوری (که دومی به نام ODENDOR شناخته می‌شود)، و ENDOR شناسایی شده به‌صورت الکترونیکی و نوری است. این کتاب به طور جامع جنبه‌های تجربی، تکنولوژیکی و نظری این تکنیک‌ها را از نقطه‌نظر عملی با مثال‌های گویا بسیاری که از نیمه‌رساناها و عایق‌ها گرفته شده‌اند، مورد بحث قرار می‌دهد. افراد غیر متخصص از پتانسیل روش های مختلف مطلع می شوند. یک محقق کمک عملی در کاربرد دستگاه های تجاری و همچنین راهنمایی های مفید از نظریه ی ابتدایی برای کار استخراج مدل های ساختار از داده های تجربی پیدا می کند.

This book introduces the principles and techniques of modern electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy that are essential for applications used to determine microscopic defect structures. Many different magnetic resonance methods are required for investigating the microscopic and electronic properties of solids and uncovering correlations between those properties. In addition to EPR such methods include electron nuclear double resonance (ENDOR), electronically and optically detected EPR (the latter is known as ODENDOR), and electronically and optically detected ENDOR. This book comprehensively discusses experimental, technological, and theoretical aspects of these techniques from a practical point of view with many illustrative examples taken from semiconductors and insulators. The non-specialist is informed about the potential of the different methods. A researcher finds practical help in the application of commercial apparatus as well as useful guidance from ab initio theory for the task of deriving structure models from experimental data.