دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 2
نویسندگان: R.F. Egerton
سری:
ISBN (شابک) : 9783319398761, 9783319398778
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 203
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 7 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اصول فیزیکی میکروسکوپ الکترونی: مقدمه ای بر TEM، SEM و AEM: خصوصیات و ارزیابی مواد، طیف سنجی و میکروسکوپ، میکروسکوپ بیولوژیکی، نانوتکنولوژی
در صورت تبدیل فایل کتاب Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اصول فیزیکی میکروسکوپ الکترونی: مقدمه ای بر TEM، SEM و AEM نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب درسی محبوب مقدمه ای بر تئوری و عمل میکروسکوپ
الکترونی ارائه می دهد. ویرایش دوم بهروزرسانی شده است تا
تحولات اخیر را منعکس کند، از جمله اصلاح انحرافات لنز در ستون
TEM و مواد جدید در TEM و SEM محیطی. متن به یک وب سایت جدید
پیوند داده شده است که حاوی مطالب آموزشی اضافی مانند نمونه
سوالات امتحانی و پاسخ به مشکلات انتخابی است. این نسخه همچنین
حاوی فهرستهای مرجع گستردهای است که به خواننده امکان میدهد
موضوعات کلیدی را به طور مؤثر در عمق بیشتری بررسی کند.
میکروسکوپهای الکترونی روبشی و پرتو ثابت ابزاری ضروری برای
تحقیقات و ارزیابی معمول در علوم فیزیکی، بیولوژیکی و پزشکی
هستند، از جمله زمینه های تخصصی در علم مواد، فناوری نانو و
پردازش نیمه هادی ها. اصول فیزیکی میکروسکوپ الکترونی،
ویرایش دوم، برای دانشآموزان، محققان و فنآورانی که از
میکروسکوپهای الکترونی استفاده میکنند، اما دانش محدودی از
فیزیک و ریاضیات دارند، ایدهآل است. دانشجویان مقطع کارشناسی
متوجه خواهند شد که چگونه از اصول اولیه فیزیک در این حوزه مهم
علوم کاربردی استفاده می شود، در حالی که معلمان و محققان
دانشگاه یک آموزش مختصر اما معتبر، مکمل یا متن مرجع را خواهند
یافت که اصول اولیه و عملکرد میکروسکوپی را پوشش می دهد.
This popular textbook provides an introduction to the theory
and practice of electron microscopy. The second edition has
been updated to reflect the recent developments, including
correction of lens aberrations in a TEM column and new
material on environmental TEM and SEM. The text is linked to
a new website that contains additional educational material
such as sample exam questions and answers to selected
problems. This edition also contains expanded reference lists
that allow the reader to efficiently explore key topics in
greater depth.
Scanning and fixed-beam electron microscopes are an
indispensable tool for both research and routine evaluation
in the physical, biological and medical sciences, including
specialized fields in materials science, nanotechnology and
semiconductor processing. Physical Principles of Electron
Microscopy, Second Edition, is ideal for students,
researchers, and technologists who make use of electron
microscopes but have only a limited knowledge of physics and
mathematics. Undergraduate students will understand how basic
principles of physics are utilized in this important area of
applied science, while university teachers and researchers
will find a concise but authoritative teaching, supplemental,
or reference text covering the basic principles and practice
of microscopy.
Front Matter....Pages i-xi
An Introduction to Microscopy....Pages 1-26
Electron Optics....Pages 27-54
The Transmission Electron Microscope....Pages 55-88
TEM Specimens and Images....Pages 89-120
The Scanning Electron Microscope....Pages 121-147
Analytical Electron Microscopy....Pages 149-169
Special Topics....Pages 171-184
Back Matter....Pages 185-196