دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: [1 ed.] نویسندگان: A. J. Auberton-Hervé, B. Aspar, J. L. Pelloie (auth.), J. P. Colinge, V. S. Lysenko, A. N. Nazarov (eds.) سری: NATO ASI Series 4 ISBN (شابک) : 9789401040525, 9789401101097 ناشر: Springer Netherlands سال نشر: 1995 تعداد صفحات: 290 [295] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 32 Mb
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
در صورت تبدیل فایل کتاب Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مشکلات جسمی و فنی ساختارها و دستگاههای SOI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
در مشکلات فیزیکی و فنی سازهها و دستگاههای SOI،
متخصصان فنآوری سیلیکون روی عایق از شرق و غرب برای اولین بار
ملاقات میکنند و به خواننده این فرصت را میدهند که با کار
آشنا شود. از اتحاد جماهیر شوروی سابق، که تاکنون فقط به زبان
روسی در دسترس بوده و به سختی در دسترس دانشمندان غربی بوده
است. سخنرانیهای اصلی و ارائههای پیشرفته، چشمانداز وسیعی از
چالشهای ناشی از مواد و دستگاههای SOI، تکنیکهای ساخت مواد،
خصوصیات، دستگاهها و مسائل مدار ارائه میدهند.
In Physical and Technical Problems of SOI Structures and
Devices, specialists in silicon-on-insulator technology
from both East and West meet for the first time, giving the
reader the chance to become acquainted with work from the
former Soviet Union, hitherto only available in Russian and
barely available to western scientists. Keynote lectures and
state-of-the-art presentations give a wide-ranging panorama
of the challenges posed by SOI materials and devices,
material fabrication techniques, characterisation, device and
circuit issues.