دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: [1 ed.] نویسندگان: Yael Erez, Yoav Y. Schechner, Dan Adam (auth.), Katrin Franke, Klaus-Robert Müller, Bertram Nickolay, Ralf Schäfer (eds.) سری: Lecture Notes in Computer Science 4174 : Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics ISBN (شابک) : 3540444122, 9783540444121 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2006 تعداد صفحات: 784 [789] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 50 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Pattern Recognition: 28th DAGM Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006. Proceedings به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب شناسایی الگو: بیست و هشتمین سمپوزیوم DAGM، برلین، آلمان، 12-14 سپتامبر 2006. مجموعه مقالات نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.