دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: R. Nagarajan (auth.), K. L. Mittal (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9781489923691, 9781489923677 ناشر: Springer US سال نشر: 1991 تعداد صفحات: 319 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 12 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب ذرات روی سطوح 3: تشخیص ، چسبندگی و حذف: شیمی فیزیک، شیمی معدنی، شیمی آلی، علوم پلیمر، خصوصیات و ارزیابی مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Particles on Surfaces 3: Detection, Adhesion, and Removal به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ذرات روی سطوح 3: تشخیص ، چسبندگی و حذف نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این مجلد شرح جلسات سومین سمپوزیوم در مورد ذرات روی سطوح: تشخیص، چسبندگی و حذف است که به عنوان بخشی از بیست و یکمین نشست سالانه انجمن ذرات ریز در سن دیگو، کالیفرنیا، 21 تا 25 اوت 1990 برگزار شد. دو مجموعه سمپوزیوم اول به ترتیب در سال های 1986 و 1988 برگزار شد و به درستی مستندسازی شده است. پس از آن سمپوزیوم سوم بسیار مورد استقبال قرار گرفت، و موفقیت مستمر این سمپوزیوم ها باور قبلی ما را تقویت کرد که سمپوزیوم های منظم با موضوع ذرات روی سطوح بسیار مورد نیاز است. همزمان، چهارمین سمپوزیوم این مجموعه در لاس وگاس، 13 تا 17 جولای، 1992 برنامه ریزی شده است. همانطور که در مقدمه دو جلد قبلی اشاره شد، مبحث ذرات روی سطوح در طیف وسیعی از حوزههای تکنولوژیکی مورد توجه و نگرانی است. اهداف سمپوزیوم سوم کاملاً مشابه اهداف دو سمپوزیوم قبلی بود و هدف ما ارائه به روز رسانی در مورد فعالیت های تحقیق و توسعه در دنیای ذرات روی سطوح بود. به همین دلیل، هر بار تلاش عمدی برای جستجوی افراد جدید برای ارائه نتایج تحقیقات خود صورت گرفته است و ما در این مأموریت بسیار موفق بوده ایم.
This volume chronicles the proceedings of the Third Symposium on Particles on Surfaces : Detection, Adhesion and Removal held as a part of the 21st Annual Meeting of the Fine Particle Society in San Diego , California, August 21 - 25 , 1990 . The first two symposia i n t h i s series were held in 1986 and 1988 , respectively, and have been properly l documented ,2. Li ke its antecedent s the Third symposium was very well received, and the continuing success of these symposia reinforced our earlier belief that regular symposia on the topic of particles on surfaces were very much needed. Concomitantly, the fourth symposium in this series is planned in Las Vegas , July 13-17 , 199 2 . l As pointed out in the Preface to the earlier two volumes ,2, the topic of particles on surfaces is of tremendous interest and concern in a wide spectrum of technological areas . The objectives of the Third symposium were es s ent i a l ly the same as those of the earlier two and our intent her e was to provide an update on the research and development activities in the world of particles on surfaces . Apropos , there has been a deliberate attempt every time to s eek out new people to present their research results and we have been very succes s f ul in this mission.
Front Matter....Pages i-viii
Front Matter....Pages 1-1
Relevance of Surface Energetics to Departiculation of Disk Drive Substrates....Pages 3-15
Particle Adhesion to Surface Under Turbulent Flow Conditions....Pages 17-27
Modelling Particle Accumulation on a Filter Surface....Pages 29-34
Particles in Ulsi Grade Chemicals and Their Adhesion to Silicon Surfaces....Pages 35-49
Evaluation of Polymeric Materials Used in the Manufacture of Disk Handling Cassettes....Pages 51-66
The Release of Particles During Spaceflight....Pages 67-75
Front Matter....Pages 77-77
Statistical Aspects of Surface Particle Counting....Pages 79-90
Light Scattering by Submicron Spherical Particles on Semiconductor Surfaces....Pages 91-105
BRDF Measurements and Mie Scattering Analysis of Spherical Particles on Optical Surfaces....Pages 107-121
Identification of Surface Contaminants Using Infrared Micro-Profiling....Pages 123-130
Analysis of Particles on Surfaces by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry....Pages 131-141
Characterization of Surface Metal Particulate Contamination Using the Polysilicon Chemical Vapor Deposition Process....Pages 143-152
Detection and Subsequent Reduction of Surface Particle Induced Defects on Silicon Wafers....Pages 153-171
Isolation and Characterization of Particle Induced Defects from the Lithography Process Using an Electrical Defect Monitor....Pages 173-190
Front Matter....Pages 191-191
Reducing Uncertainties in Particle Adhesion and Removal Measurements....Pages 193-202
Particulate and Defect Reduction Strategies for Semiconductor Devices: Tools and Methodologies....Pages 203-215
Ultrasonic Cleaning of Surfaces: An Overview....Pages 217-237
Particle Protection of Semiconductor Surfaces by Reversible Wafer Bonding and Related Concepts....Pages 239-247
Ultra-Clean Air Ionizers for Suppression of Particulate Surface Contamination....Pages 249-256
The Cold Jet Process — An Environmentally Sound Alternative for Particles Removal From Advanced Substrates....Pages 257-269
Front Matter....Pages 191-191
Identification and Removal of Storage Induced Particle Contamination on Silicon Wafer Surfaces....Pages 271-276
Particle Removal from Oxide, Nitride, and Bare Silicon Surfaces Using Direct-Displacement Isopropyl Alcohol (IPA) Drying....Pages 277-289
Elimination of Fretting Wear Particles from the Surface of a Power Cable on a Disk Drive Actuator: A Case Study....Pages 291-305
Scanning UV Laser Removal of Contaminants from Semiconductor and Optical Surfaces....Pages 307-316
Back Matter....Pages 317-328