دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 2. Aufl. 2019
نویسندگان: Peter Baumann
سری:
ISBN (شابک) : 9783658265731, 9783658265748
ناشر: Springer Fachmedien Wiesbaden;Springer Vieweg
سال نشر: 2019
تعداد صفحات: 192
زبان: German
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 8 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب استخراج پارامتر برای اجزای نیمه هادی: شبیه سازی با PSPICE: مهندسی، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق، الکترونیک قدرت، ماشینها و شبکههای الکتریکی، مایکروویو، مهندسی نوری و RF، مدارها و دستگاههای الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit PSPICE به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب استخراج پارامتر برای اجزای نیمه هادی: شبیه سازی با PSPICE نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
علاوه بر سخنرانی، تمرینهای حسابی و بهویژه تمرین آزمایشگاهی در مبحث الکترونیک، روشهای تحلیلی برای استخراج پارامترهای مدل SPICE از اجزای نیمهرسانا انتخاب شده ارائه شدهاند. برای اجزای نسخه DEMO برنامه OrCAD-PSPICE، نشان داده شده است که چگونه پارامترهای مدل الکتریکی استاتیک و دینامیک را می توان با استفاده از تجزیه و تحلیل SPICE بازیابی کرد. این تعیین پارامتر برای دیودهای سوئیچینگ، دیودهای خازنی، دیودهای Z، ترانزیستورهای دوقطبی npn، ترانزیستورهای اثر میدان اتصال کانال N، ترانزیستورهای آرایه CMOS، تقویت کننده های عملیاتی و اپتوکوپلرها ارائه شده است.
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
Front Matter ....Pages I-XI
Halbleiterdioden (Peter Baumann)....Pages 1-14
Bipolartransistoren (Peter Baumann)....Pages 15-42
Sperrschicht-Feldeffekttransistoren (Peter Baumann)....Pages 43-59
MOS-Feldeffekttransistoren (Peter Baumann)....Pages 61-77
Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor (Peter Baumann)....Pages 79-89
Operationsverstärker (Peter Baumann)....Pages 91-110
Optokoppler (Peter Baumann)....Pages 111-143
Sensoren (Peter Baumann)....Pages 145-183
Back Matter ....Pages 185-187