ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Output Measurement in Science and Technology. Essays in Honor of Yvan Fabian

دانلود کتاب اندازه گیری خروجی در علم و فناوری. مقالاتی به افتخار ایوان فابیان

Output Measurement in Science and Technology. Essays in Honor of Yvan Fabian

مشخصات کتاب

Output Measurement in Science and Technology. Essays in Honor of Yvan Fabian

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9780444703309 
ناشر: Elsevier Science Ltd 
سال نشر: 1987 
تعداد صفحات: 178 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 4 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 38,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Output Measurement in Science and Technology. Essays in Honor of Yvan Fabian به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اندازه گیری خروجی در علم و فناوری. مقالاتی به افتخار ایوان فابیان نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی



فهرست مطالب

Content: 
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Preface, Pages v-vi, Christopher Freeman
Introductory note, Pages 3-4, J. MARCUM
Is Western Europe losing the technological race?, Pages 5-31, Pari PATEL, Keith PAVITT
A technology gap approach to why growth rates differ, Pages 33-45, Jan FAGERBERG
The impact of technological innovation on international trade patterns: The evidence reconsidered, Pages 47-76, Luc SOETE
Patents and the measurement of technological change: A survey of the literature, Pages 77-87, Bjørn L. BASBERG
Patents as indicators of corporate technological strength, Pages 89-101, Francis NARIN, Elliot NOMA, Ross PERRY
Patents and inventors: An empirical study, Pages 103-120, Giorgio SIRILLI
A study of innovation in the pesticide industry: Analysis of the innovation record of an industrial sector, Pages 121-158, Basil ACHILLADELIS, Albert SCHWARZKOPF, Martin CINES
Assessing basic research: Reappraisal and update of an evaluation of four radio astronomy observatories, Pages 159-173, John IRVINE, Ben R. MARTIN, John ABRAHAM, Tim PEACOCK
Author index, Pages 175-178
Subject index, Pages 179-181




نظرات کاربران