دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: C. Freeman (Eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780444703309
ناشر: Elsevier Science Ltd
سال نشر: 1987
تعداد صفحات: 178
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 4 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Output Measurement in Science and Technology. Essays in Honor of Yvan Fabian به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اندازه گیری خروجی در علم و فناوری. مقالاتی به افتخار ایوان فابیان نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Content:
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Preface, Pages v-vi, Christopher Freeman
Introductory note, Pages 3-4, J. MARCUM
Is Western Europe losing the technological race?, Pages 5-31, Pari PATEL, Keith PAVITT
A technology gap approach to why growth rates differ, Pages 33-45, Jan FAGERBERG
The impact of technological innovation on international trade patterns: The evidence reconsidered, Pages 47-76, Luc SOETE
Patents and the measurement of technological change: A survey of the literature, Pages 77-87, Bjørn L. BASBERG
Patents as indicators of corporate technological strength, Pages 89-101, Francis NARIN, Elliot NOMA, Ross PERRY
Patents and inventors: An empirical study, Pages 103-120, Giorgio SIRILLI
A study of innovation in the pesticide industry: Analysis of the innovation record of an industrial sector, Pages 121-158, Basil ACHILLADELIS, Albert SCHWARZKOPF, Martin CINES
Assessing basic research: Reappraisal and update of an evaluation of four radio astronomy observatories, Pages 159-173, John IRVINE, Ben R. MARTIN, John ABRAHAM, Tim PEACOCK
Author index, Pages 175-178
Subject index, Pages 179-181