دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Weiwei Chen (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783319087528, 9783319087535
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2015
تعداد صفحات: 158
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 8 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب شبیهسازی رویداد گسسته موازی غیرقابل سفارش برای طراحی الکترونیکی در سطح سیستم: مدارها و سیستم ها، معماری پردازنده ها، مدارها و دستگاه های الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Out-of-order Parallel Discrete Event Simulation for Electronic System-level Design به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب شبیهسازی رویداد گسسته موازی غیرقابل سفارش برای طراحی الکترونیکی در سطح سیستم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب مجموعهای از رویکردها و ابزارهای جدید مجموعهای از ابزارها و تکنیکها را برای رویارویی با چالشها به موازات طراحی سیستمهای تعبیهشده به خوانندگان ارائه میدهد. این یک زیرساخت شبیهسازی موازی پیشرفته برای اعتبارسنجی و توسعه مدل کارآمد و مؤثر در سطح سیستم فراهم میکند تا محصولات بهتری در زمان کمتری ساخته شود. از آنجایی که شبیهسازی رویداد گسسته موازی (PDES) پتانسیل بهرهبرداری از قابلیت محاسباتی موازی زیربنایی را در میزبانهای شبیهسازی چند هستهای امروزی دارد، نویسنده با بررسی موازیسازی شبیهسازی رویداد گسسته، شناسایی مشکلات و راهحلها شروع میکند. او سپس شبیهسازی رویداد گسسته موازی نامتعادل (OoO PDES)، یک رویکرد جدید برای اعتبارسنجی کارآمد طراحیهای سطح سیستم با بهرهبرداری تهاجمی از قابلیتهای موازی رایانههای شخصی چند هستهای امروزی را توصیف میکند. این رویکرد خوانندگان را قادر میسازد تا شبیهسازهایی طراحی کنند که میتوانند به طور کامل از قابلیت پردازش موازی سیستم چند هستهای برای دستیابی به شبیهسازی سرعت سریع، بدون از دست دادن دقت شبیهسازی و زمانبندی، بهرهبرداری کنند. بر اساس این زیرساخت شبیهسازی موازی، نویسنده بیشتر رویکردهای خودکاری را توصیف میکند که به طراح کمک میکند تا به سرعت اهداف اشکالزدایی را در مدلهای ESL معیوب با موازیسازی محدود کند.
This book offers readers a set of new approaches and tools a set of tools and techniques for facing challenges in parallelization with design of embedded systems. It provides an advanced parallel simulation infrastructure for efficient and effective system-level model validation and development so as to build better products in less time. Since parallel discrete event simulation (PDES) has the potential to exploit the underlying parallel computational capability in today’s multi-core simulation hosts, the author begins by reviewing the parallelization of discrete event simulation, identifying problems and solutions. She then describes out-of-order parallel discrete event simulation (OoO PDES), a novel approach for efficient validation of system-level designs by aggressively exploiting the parallel capabilities of todays’ multi-core PCs. This approach enables readers to design simulators that can fully exploit the parallel processing capability of the multi-core system to achieve fast speed simulation, without loss of simulation and timing accuracy. Based on this parallel simulation infrastructure, the author further describes automatic approaches that help the designer quickly to narrow down the debugging targets in faulty ESL models with parallelism.
Front Matter....Pages i-xix
Introduction....Pages 1-27
The ConcurrenC Model of Computation....Pages 29-37
Synchronous Parallel Discrete Event Simulation....Pages 39-56
Out-of-Order Parallel Discrete Event Simulation....Pages 57-74
Optimized Out-of-Order Parallel Discrete Event Simulation....Pages 75-94
Comparison and Outlook....Pages 95-105
Utilizing the Parallel Simulation Infrastructure....Pages 107-129
Conclusions....Pages 131-135
Back Matter....Pages 137-145