دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Mikhail Yavor (Eds.)
سری: Advances in Imaging and Electron Physics 157
ISBN (شابک) : 9780123747686
ناشر: Academic Press
سال نشر: 2009
تعداد صفحات: 388
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 11 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Optics of Charged Particle Analyzers به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اپتیک آنالایزرهای ذرات باردار نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پیشرفتها در تصویربرداری و فیزیک الکترون دو سریال
طولانیمدت را ادغام میکند--پیشرفتها در الکترونیک و فیزیک
الکترون و پیشرفتها در میکروسکوپ نوری و
الکترونی.
این مجموعه شامل مقالات گسترده ای در مورد فیزیک دستگاه های
الکترونی (به ویژه دستگاه های نیمه هادی)، اپتیک ذرات در انرژی
های بالا و پایین، میکرولیتوگرافی، علم تصویر و پردازش تصویر
دیجیتال، انتشار امواج الکترومغناطیسی، میکروسکوپ الکترونی و روش
های محاسباتی مورد استفاده در همه این دامنه ها
* مشارکت دانشمندان برجسته بین المللی و کارشناسان صنعت
* بحث در مورد موضوعات داغ و ارائه روندهای تحقیقاتی فعلی و
آینده
* مرجع و راهنمای ارزشمند برای فیزیکدانان، مهندسان و ریاضیدانان
Advances in Imaging and Electron Physics merges two
long-running serials--Advances in Electronics and Electron
Physics and Advances in Optical and Electron
Microscopy.
This series features extended articles on the physics of
electron devices (especially semiconductor devices), particle
optics at high and low energies, microlithography, image
science and digital image processing, electromagnetic wave
propagation, electron microscopy, and the computing methods
used in all these domains.
* Contributions from leading international scholars and
industry experts
* Discusses hot topic areas and presents current and future
research trends
* Invaluable reference and guide for physicists, engineers and
mathematicians
Content:
Series Editors
Page ii
Copyright Page
Page iv
Dedication
Page v
Mikhail Yavor
Preface
Page xiii
Peter W. Hawkes
Foreword
Pages xv-xvii
Mikhail Yavor
Contributors to Volume 157
Pages xix-xxiii
Chapter 1 Charged Particles in Electromagnetic Fields Review Article
Pages 1-32
Mikhail Yavor
Chapter 2 Language of Aberration Expansions in Charged Particle Optics Review Article
Pages 33-93
Mikhail Yavor
Chapter 3 Transporting Charged Particle Beams in Static Fields Review Article
Pages 95-139
Mikhail Yavor
Chapter 4 Transporting Charged Particles in Radiofrequency Fields Review Article
Pages 141-168
Mikhail. Yavor
Chapter 5 Static Magnetic Charged Particle Analyzers Review Article
Pages 169-211
Mikhail Yavor
Chapter 6 Electrostatic Energy Analyzers Review Article
Pages 213-258
Mikhail Yavor
Chapter 7 Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields Review Article
Pages 259-281
Mikhail Yavor
Chapter 8 Time-of-Flight Mass Analyzers Review Article
Pages 283-316
Mikhail Yavor
Chapter 9 Radiofrequency Mass Analyzers Review Article
Pages 317-350
Mikhail Yavor
References
Pages 351-371
Mikhail Yavor
Contents of Previous Volumes
Pages 373-374
Subject Index
Pages 375-381