دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies
دانلود کتاب تصویربرداری نوری و اندازه گیری: فن آوری های پیشرفته
مشخصات کتاب
Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies
ویرایش: سری: ISBN (شابک) : 9783527410644, 9783527648443 ناشر: سال نشر: 2012 تعداد صفحات: 493 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 7 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 45,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تصویربرداری نوری و اندازه گیری: فن آوری های پیشرفته نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تصویربرداری نوری و اندازه گیری: فن آوری های پیشرفته
مروری جامع از وضعیت هنر و پیشرفت‌ها در این زمینه، در حالی که
پتانسیل‌های آینده و روندهای توسعه تصویربرداری نوری و مترولوژی
نوری، منطقه‌ای با رشد سریع با کاربردهای متعدد در نانوتکنولوژی و
نانوفیزیک را نشان می‌دهد. این کتاب که توسط متخصصان برجسته جهان
در این زمینه نوشته شده است، شکاف موجود در ادبیات کنونی را با پل
زدن زمینه‌های تصویربرداری نوری و اندازه‌شناسی پر می‌کند و تنها
منبع به‌روز از نظر دانش بنیادی، مفاهیم اولیه، روش‌شناسی،
کاربردها است. و روندهای توسعه. محتوا:
فصل 1 تعدیل‌کننده‌های نور فضایی LCOS: روندها و کاربردها
(صفحه‌های 1-29): گریگوری لازارف، آندریاس هرمرشمیت، سون کروگر و
استفان اوستن
فصل 2 سه بعدی نمایشگر و تصویربرداری: وضعیت و چشم انداز (صفحات
31-56): بیونگو لی و یانگمین کیم
فصل 3 تلویزیون هولوگرافیک: وضعیت و آینده (صفحات 57-94):
Malgorzata Kujawinska و Tomasz Kozacki
فصل 4 نمایش هولوگرافی – وضعیت و آینده ( صفحات 95-119): ونتسسلاو
ساینوف و النا استویکووا
فصل 5 کامپیوتر غیر منسجم؟ هولوگرافی تولید شده برای تصویربرداری
و نمایش رنگی سه بعدی (صفحات 121 تا 134): تویوهیکو یاتاگای و
یوسوکه ساندو
فصل 6 رویکردهایی برای غلبه بر مشکل در هولوگرافی دیجیتال غیر
منسجم (صفحات 135-161): جوزف روزن، ناتان تی شاکد، باراک کاتز و
گری بروکر
فصل 7 مدیریت هولوگرام های دیجیتال و فرآیند بازسازی عددی برای
انعطاف پذیری تمرکز (صفحات 163-177): ملانیا پاتورزو و Pietro
Ferraro
فصل 8؟ کنترل ذرات سه بعدی توسط موچین های نوری هولوگرافیک (صفحات
179-206): Mike Woerdemann، Christina Alpmann و Cornelia
Denz
فصل 9 نقش حفاظت از مالکیت فکری در ایجاد کسب و کار در زمینه نوری
207-223): دکتر نادیا رینگاند
فصل 10 در مورد تفاوت بین تصویربرداری سه بعدی و مترولوژی سه بعدی
برای توموگرافی کامپیوتری (صفحات 225-238): دانیل وی؟ و مایکل
توتزک
فصل 11 هولوگرافی منسجم: اصل و کاربردها (صفحات 239-253): میتسوئو
تاکدا، وی وانگ و دینش ان. نایک
فصل 12 میکروسکوپ نوری کمی در مقیاس نانو: پیشرفت‌ها و مقایسه‌های
جدید –282): Bernd Bodermann, Egbert Buhr, Zhi Li and Harald
Bosse
مدل فصل 13؟ مترولوژی نوری مبتنی بر (صفحات 283-304): Xavier
Colonna de Lega
فصل 14 بازرسی پیشرفته MEMS توسط راه حل های مستقیم و غیر مستقیم
(ص. محیط‌ها (صفحات 369–391): جونیور Armando Albertazzi G.
فصل 17 روش‌های پیشرفته برای آزمایش غیرمخرب نوری (صفحات
393–412): Ralf B. Bergmann و Philipp Huke
فصل 18 ارتقاء تداخل هولوگرافیک برای تداخل صنعتی توسط هولوگرافی
دیجیتال (صفحات 413-437): Zoltaan Fuzessy، Ferenc Gyimesi و
Venczel Borbely
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
A comprehensive review of the state of the art and advances in
the field, while also outlining the future potential and
development trends of optical imaging and optical metrology, an
area of fast growth with numerous applications in
nanotechnology and nanophysics. Written by the world's leading
experts in the field, it fills the gap in the current
literature by bridging the fields of optical imaging and
metrology, and is the only up-to-date resource in terms of
fundamental knowledge, basic concepts, methodologies,
applications, and development trends.Content:
Chapter 1 LCOS Spatial Light Modulators: Trends and
Applications (pages 1–29): Grigory Lazarev, Andreas
Hermerschmidt, Sven Kruger and Stefan Osten
Chapter 2 Three?Dimensional Display and Imaging: Status and
Prospects (pages 31–56): Byoungho Lee and Youngmin Kim
Chapter 3 Holographic Television: Status and Future (pages
57–94): Malgorzata Kujawinska and Tomasz Kozacki
Chapter 4 Display Holography–Status and Future (pages 95–119):
Ventseslav Sainov and Elena Stoykova
Chapter 5 Incoherent Computer?Generated Holography for 3D Color
Imaging and Display (pages 121–134): Toyohiko Yatagai and
Yusuke Sando
Chapter 6 Approaches to Overcome the Resolution Problem in
Incoherent Digital Holography (pages 135–161): Joseph Rosen,
Natan T. Shaked, Barak Katz and Gary Brooker
Chapter 7 Managing Digital Holograms and the Numerical
Reconstruction Process for Focus Flexibility (pages 163–177):
Melania Paturzo and Pietro Ferraro
Chapter 8 Three?Dimensional Particle Control by Holographic
Optical Tweezers (pages 179–206): Mike Woerdemann, Christina
Alpmann and Cornelia Denz
Chapter 9 The Role of Intellectual Property Protection in
Creating Business in Optical Metrology (pages 207–223): Dr.
Nadya Reingand
Chapter 10 On the Difference between 3D Imaging and 3D
Metrology for Computed Tomography (pages 225–238): Daniel Wei?
and Michael Totzeck
Chapter 11 Coherence Holography: Principle and Applications
(pages 239–253): Mitsuo Takeda, Wei Wang and Dinesh N.
Naik
Chapter 12 Quantitative Optical Microscopy at the Nanoscale:
New Developments and Comparisons (pages 255–282): Bernd
Bodermann, Egbert Buhr, Zhi Li and Harald Bosse
Chapter 13 Model?Based Optical Metrology (pages 283–304):
Xavier Colonna de Lega
Chapter 14 Advanced MEMS Inspection by Direct and Indirect
Solution Strategies (pages 305–326): Ryszard J.
Pryputniewicz
Chapter 15 Different Ways to Overcome the Resolution Problem in
Optical Micro and Nano Metrology (pages 327–368): Prof. Dr.
Wolfgang Osten
Chapter 16 Interferometry in Harsh Environments (pages
369–391): Jr. Armando Albertazzi G.
Chapter 17 Advanced Methods for Optical Nondestructive Testing
(pages 393–412): Ralf B. Bergmann and Philipp Huke
Chapter 18 Upgrading Holographic Interferometry for Industrial
Application by Digital Holography (pages 413–437): Zoltaan
Fuzessy, Ferenc Gyimesi and Venczel Borbely
