برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Optical Diagnostics for Thin Film Processing

دانلود کتاب تشخیص نوری برای پردازش فیلم نازک

مشخصات کتاب

Optical Diagnostics for Thin Film Processing

دسته بندی: فیزیک
ویرایش: 1st 
نویسندگان: Irving P. Herman  
سری:  
ISBN (شابک) : 9780123420701, 0123420709 
ناشر: Academic Press 
سال نشر: 1995 
تعداد صفحات: 815 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 38 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 35,000

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 7

در صورت تبدیل فایل کتاب Optical Diagnostics for Thin Film Processing به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تشخیص نوری برای پردازش فیلم نازک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب تشخیص نوری برای پردازش فیلم نازک

این جلد نقش فزاینده تشخیص نوری درجا را در پردازش لایه نازک برای کاربردهای مختلف از مطالعات علوم بنیادی گرفته تا توسعه فرآیند تا کنترل در حین ساخت توصیف می‌کند. مزیت کلیدی تشخیص نوری در این کاربردها این است که معمولاً غیر تهاجمی و غیر نفوذی هستند. پروب های نوری سطح، فیلم، ویفر و گاز بالای ویفر برای بسیاری از فرآیندها، از جمله اچ پلاسما، MBE، MOCVD، و پردازش حرارتی سریع توضیح داده شده است. برای هر تکنیک نوری، اصول اساسی ارائه می‌شود، حالت‌های اجرای آزمایشی توصیف می‌شوند، و کاربردهای تشخیصی در پردازش لایه نازک، با مثال‌هایی از میکروالکترونیک و اپتوالکترونیک، تحلیل می‌شوند. توجه ویژه ای به کاوش در زمان واقعی سطح، به اندازه گیری غیرتهاجمی دما، و استفاده از پروب های نوری برای کنترل فرآیند می شود. تشخیص نوری برای پردازش لایه نازک منحصر به فرد است. هیچ جلد دیگری کاربرد بلادرنگ تکنیک های نوری را در همه حالت های پردازش لایه نازک بررسی نمی کند. این متن می تواند توسط دانش آموزان و افراد تازه وارد به عنوان مقدمه و بررسی موضوع مورد استفاده قرار گیرد. همچنین به عنوان یک منبع جامع برای مهندسان، تکنسین ها، محققان و دانشمندانی که در حال حاضر در این زمینه کار می کنند، عمل می کند.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This volume describes the increasing role of in situ optical diagnostics in thin film processing for applications ranging from fundamental science studies to process development to control during manufacturing. The key advantage of optical diagnostics in these applications is that they are usually noninvasive and nonintrusive. Optical probes of the surface, film, wafer, and gas above the wafer are described for many processes, including plasma etching, MBE, MOCVD, and rapid thermal processing. For each optical technique, the underlying principles are presented, modes of experimental implementation are described, and applications of the diagnostic in thin film processing are analyzed, with examples drawn from microelectronics and optoelectronics. Special attention is paid to real-time probing of the surface, to the noninvasive measurement of temperature, and to the use of optical probes for process control.Optical Diagnostics for Thin Film Processing is unique. No other volume explores the real-time application of optical techniques in all modes of thin film processing. The text can be used by students and those new to the topic as an introduction and review of the subject. It also serves as a comprehensive resource for engineers, technicians, researchers, and scientists already working in the field.