دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Optical Characterization of Thin Solid Films
دانلود کتاب خصوصیات نوری از فیلم های جامد نازک
مشخصات کتاب
Optical Characterization of Thin Solid Films
ویرایش: 1st ed.
نویسندگان: Olaf Stenzel. Miloslav Ohlídal
سری: Springer Series in Surface Sciences 64
ISBN (شابک) : 9783319753249, 9783319753256
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2018
تعداد صفحات: 474
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 18 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 43,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب خصوصیات نوری از فیلم های جامد نازک: فیزیک، علوم سطح و رابط، لایه های نازک، مواد نوری و الکترونیکی، طیف سنجی و میکروسکوپ، خصوصیات و ارزیابی مواد، سطوح و واسط ها، لایه های نازک
در صورت تبدیل فایل کتاب Optical Characterization of Thin Solid Films به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خصوصیات نوری از فیلم های جامد نازک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب خصوصیات نوری از فیلم های جامد نازک
این کتاب یک بررسی به روز از تکنیک های اصلی مشخصه یابی نوری برای لایه های جامد نازک است. تاکید بر عملی بودن رویکردهای مختلف است. مبانی مربوطه قبل از نشان دادن کاربرد این تکنیک ها در موضوعات تحقیق و توسعه عملاً مرتبط به طور خلاصه مرور می شود. این کتاب توسط کارشناسان برتر بین المللی نوشته شده است که همگی در پروژه های تحقیق و توسعه صنعتی مشارکت دارند.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This book is an up-to-date survey of the major optical characterization techniques for thin solid films. Emphasis is placed on practicability of the various approaches. Relevant fundamentals are briefly reviewed before demonstrating the application of these techniques to practically relevant research and development topics. The book is written by international top experts, all of whom are involved in industrial research and development projects.
فهرست مطالب
Front Matter ....Pages i-xxiv
Front Matter ....Pages 1-1
Introduction (O. Stenzel, Miloslav Ohlídal)....Pages 3-10
Characterization of Porous Zirconia Samples as an Example of the Interplay Between Optical and Non-optical Characterization Methods (O. Stenzel)....Pages 11-29
Universal Dispersion Model for Characterization of Thin Films Over Wide Spectral Range (Daniel Franta, Jiří Vohánka, Martin Čermák)....Pages 31-82
Predicting Optical Properties from Ab Initio Calculations (Pavel Ondračka, David Holec, Lenka Zajíčková)....Pages 83-104
Front Matter ....Pages 105-105
Optical Characterization of Thin Films by Means of Imaging Spectroscopic Reflectometry (Miloslav Ohlídal, Jiří Vodák, David Nečas)....Pages 107-141
Data Processing Methods for Imaging Spectrophotometry (David Nečas)....Pages 143-175
In Situ and Ex Situ Spectrophotometric Characterization of Single- and Multilayer-Coatings I: Basics (Olaf Stenzel, Steffen Wilbrandt)....Pages 177-202
In Situ and Ex Situ Spectrophotometric Characterization of Single- and Multilayer-Coatings II: Experimental Technique and Application Examples (Steffen Wilbrandt, Olaf Stenzel)....Pages 203-232
Ellipsometry of Layered Systems (Ivan Ohlídal, Jiří Vohánka, Martin Čermák, Daniel Franta)....Pages 233-267
Front Matter ....Pages 269-269
Optical Characterization of Thin Films Exhibiting Defects (Ivan Ohlídal, Martin Čermák, Jiří Vohánka)....Pages 271-313
Scanning Probe Microscopy Characterization of Optical Thin Films (Petr Klapetek)....Pages 315-339
Resonant Waveguide Grating Structures (Stefanie Kroker, Thomas Siefke)....Pages 341-358
Polarization Control by Deep Ultra Violet Wire Grid Polarizers (Thomas Siefke, Stefanie Kroker)....Pages 359-374
Front Matter ....Pages 375-375
Roughness and Scatter in Optical Coatings (M. Trost, S. Schröder)....Pages 377-405
Absorption and Fluorescence Measurements in Optical Coatings (Christian Mühlig)....Pages 407-431
Cavity Ring-Down Technique for Optical Coating Characterization (Christian Karras)....Pages 433-456
Back Matter ....Pages 457-462
