Optical Characterization of Semiconductors. Infrared, Raman, and Photoluminescence Spectroscopy

ویرایش:  
نویسندگان: Sidney Perkowitz (Auth.)  
سری: Techniques of physics, 14 
ISBN (شابک) : 9780125507707, 0125507704 
ناشر: Academic Press 
سال نشر: 1993 
تعداد صفحات: 222 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 26 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 44,000

ریزساختارهای پیچیده و متنوع نیمه هادی امروزی برای توصیف دستگاه ها یا ارائه بازخورد به سازندگان مواد برای مواد بهتر دشوار است. روش‌های نوری یکی از بهترین ابزارهای شناسایی هستند. آنها نیازی به تماس ندارند و به نمونه ها آسیب نمی رسانند، ویژگی های مختلفی را اندازه گیری می کنند، و برای ساختارهای حجیم یا لایه ای ساخته شده از نیمه هادی های عنصری، دوتایی یا سه تایی کار می کنند.

چندین روش نوری مفیدی وجود دارد که در طول موج های مختلف عمل می کنند. در گذشته این به این معنی بود که یافتن بهترین روش برای یک نیاز شخصیت پردازی معین دشوار بود. اکنون می‌توان تکنیک‌ها و روش‌هایی را از ویژگی‌های نوری نیمه‌رساناها، اولین کتابی که برای توضیح، توضیح و مقایسه پرکاربردترین روش‌ها: نورتابی، طیف‌سنجی فروسرخ، و پراکندگی رامان، توضیح داد، انتخاب کرد.

نوشته شده با افراد غیر متخصص. در ذهن، این کتاب هیچ دانش خاصی از نیمه هادی ها یا اپتیک را در نظر نمی گیرد، اما پیش زمینه مورد نیاز برای درک چرایی و چگونگی هر تکنیک را ایجاد می کند.

هر روش با ده ها مطالعه موردی برگرفته از ادبیات فعلی نشان داده شده است، که به مشکلات خاصی می پردازد. در سیلیکون، GaAs، Al[subscript x]Ga[subscript 1-x]As، و سایر مواد پرکاربرد. این کتابخانه از کاربردها، مرتب شده بر اساس ویژگی های ارزیابی شده (مانند نوع ناخالصی، مقاومت، و ضخامت لایه) حتی برای کسانی که با روش های نوری آشنا هستند ارزشمند است.

اطلاعات عملی برای کمک به ایجاد امکانات نوری، از جمله منابع تجاری برای تجهیزات، ارائه شده است. و جزئیات تجربی که بر اساس تجربه گسترده نویسنده است.

برای دانشمندان صنعتی با مشکلات خاص در مواد نیمه هادی. برای دانشمندان دانشگاهی که مایل به استفاده از روش های طیف سنجی خود برای مشکلات خصوصیات هستند. و برای دانشجویان فیزیک حالت جامد، علوم و مهندسی مواد، و الکترونیک نیمه هادی یا فوتونیک، این کتاب یک نمای کلی منحصر به فرد ارائه می دهد و برای اولین بار این تکنیک های ارزشمند را به روشی منسجم گرد هم می آورد. بیشتر بخوانید...

Today's complex and varied semiconductor microstructures are difficult to characterize for devices, or to provide feedback to materials makers for better materials. Optical methods are one of the best means of characterization; they require no contacts and do not damage samples, they measure a variety of properties, and they work for bulk or layered structures made of elemental, binary, or ternary semiconductors.

There are several useful optical approaches which operate at different wavelengths. In the past this meant it was difficult to find the best method for a given characterization need. Now, it is possible to learn techniques and select approaches from Optical Characterization of Semiconductors, the first book to explain, illustrate, and compare the most widely used methods: photoluminescence, infrared spectroscopy, and Raman scattering.

Written with non-experts in mind, the book assumes no special knowledge of semiconductors or optics, but develops the background needed to understand the why and how of each technique.

Each method is illustrated with dozens of case studies taken from current literature, which address specific problems in silicon, GaAs, Al[subscript x]Ga[subscript 1-x]As, and other widely-used materials. This library of uses, arranged by property evaluated (such as impurity type, resistivity, and layer thickness) is valuable even for those familiar with optical methods.

Practical information is given to help establish optical facilities, including commercial sources for equipment, and experimental details which draw on the author's wide experience.

For industrial scientists with specific problems in semiconducting materials; for academic scientists who wish to apply their spectroscopic methods for characterization problems; and for students in solid state physics, materials science and engineering, and semiconductor electronics or photonics, the book provides a unique overview, bringing together these valuable techniques in a coherent way for the first time. Read more...

Content: 
Techniques of Physics, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Dedication, Page v
Preface, Pages ix-x
1 - Introduction, Pages 1-6
2 - Optical Theory for Semiconductor Characterization, Pages 7-16
3 - Optical Physics of Semiconductors, Pages 17-44
4 - Measurement Methods, Pages 45-59
5 - Case Studies: Photoluminescence Characterization, Pages 61-103
6 - Case Studies: Raman Characterization, Pages 105-158
7 - Case Studies: Infrared Characterization, Pages 159-200
8 - Summary and Future Trends, Pages 201-205
References, Pages 207-215
INDEX, Pages 217-220