ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Optical and Electronic Process of Nano-Matters

دانلود کتاب فرآیند نوری و الکترونیکی مواد نانو

Optical and Electronic Process of Nano-Matters

مشخصات کتاب

Optical and Electronic Process of Nano-Matters

ویرایش: 1 
نویسندگان: ,   
سری: Advances in Optoelectronics (ADOP) 8 
ISBN (شابک) : 9789048157075, 9789401724821 
ناشر: Springer Netherlands 
سال نشر: 2001 
تعداد صفحات: 341 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 12 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 40,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب فرآیند نوری و الکترونیکی مواد نانو: خصوصیات و ارزیابی مواد، سطوح و واسط ها، لایه های نازک، اپتیک، اپتوالکترونیک، پلاسمونیک و دستگاه های نوری، مواد نوری و الکترونیکی، مهندسی برق



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 14


در صورت تبدیل فایل کتاب Optical and Electronic Process of Nano-Matters به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب فرآیند نوری و الکترونیکی مواد نانو نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب فرآیند نوری و الکترونیکی مواد نانو



توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Sizes of electronic and photonic devices are decreasing drastically in order to increase the degree of integration for large-capacity and ultrahigh­ speed signal transmission and information processing. This miniaturization must be rapidly progressed from now onward. For this progress, the sizes of materials for composing these devices will be also decreased to several nanometers. If such a nanometer-sized material is combined with the photons and/or some other fields, it can exhibit specific characters, which are considerably different from those ofbulky macroscopic systems. This combined system has been called as a mesoscopic system. The first purpose of this book is to study the physics of the mesoscopic system. For this study, it is essential to diagnose the characteristics of miniaturized devices and materials with the spatial resolution as high as several nanometers or even higher. Therefore, novel methods, e.g., scanning probe microscopy, should be developed for such the high-resolution diagnostics. The second purpose of this book is to explore the possibility of developing new methods for these diagnostics by utilizing local interaction between materials and electron, photon, atomic force, and so on. Conformation and structure of the materials of the mesoscopic system can be modified by enhancing the local interaction between the materials and electromagnetic field. This modification can suggest the possibility of novel nano-fabrication methods. The third purpose of this book is to explore the methods for such nano-fabrication.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xii
Electronic and Electromagnetic Properties in Nanometer Scales....Pages 1-55
Electron Transport in Semiconductor Quantum Dots....Pages 57-93
Electron Energy Modulation with Optical Evanescent Waves....Pages 95-122
Interactions of Electrons and Electromagnetic Fields in a Single Molecule....Pages 123-145
Theory of Electronic and Atomic Processes in Scanning Probe Microscopy....Pages 147-179
Tunneling-Electron Luminescence Microscopy for Multifunctional and Real-Space Characterization of Semiconductor Nanostructures....Pages 181-200
Near-Field Optical Spectroscopy of Single Quantum Dots....Pages 201-218
Chemical Vapor Deposition of Nanometric Materials by Optical Near-Fields: Toward Nano-Photonic Integration....Pages 219-234
Noncontact Atomic Force Microscopy....Pages 235-276
Correlation between Interface States and Structures Deduced from Atomic-Scale Surface Roughness in Ultrathin SiO 2 /Si System....Pages 277-297
Characterization of Molecular Films by a Scanning Probe Microscope....Pages 299-328
Back Matter....Pages 329-334




نظرات کاربران