On-Line Testing for VLSI

عملکردهای آزمایشی (تشخیص خطا، تشخیص، تصحیح خطا، تعمیر، و غیره) که همزمان در زمانی که سیستم به عملکرد مورد نظر خود ادامه می‌دهد به‌عنوان تست آنلاین تعریف می‌شوند. در دامنه گسترده خود، آزمایش آنلاین شامل طراحی زیرسیستم های بررسی خطای همزمان است که می توانند خود کنترل شوند، سیستم های ایمن که حتی پس از وقوع خطا به درستی کار می کنند، نظارت بر قابلیت اطمینان، و خودآزمایی و خطا. طرح های متحمل
آزمایش آنلاین برای VLSI شامل مجموعه‌ای از مقالات منتخب است که بسیاری از جنبه‌های مدرن تست آنلاین را که امروزه با آن مواجه هستیم، مورد بحث قرار می‌دهد. مشارکت‌ها عمدتاً از کارگاه‌های آزمایشی آنلاین بین‌المللی IEEEبرخط گرفته شده‌اند. ویراستاران مهمان، مایکل نیکولایدیس، یروانت زوریان و دراج پرادان، مقالات را در شش فصل تنظیم کردند. در فصل اول، ویراستاران تعداد زیادی از رویکردها را با کتابشناسی گسترده معرفی می کنند که در آن برخی از مراجع به دهه شصت باز می گردد.
تست آنلاین برای VLSI یک جلد ویرایش شده از تحقیقات اصلی است که شامل مشارکت های دعوت شده توسط محققان برجسته است.

Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs.
On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE InternationalOn-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties.
On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.