Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2

از زمان انتشار اولیه میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی در سال 2002، میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی (NC-AFM) پیشرفت قابل توجهی داشته است. این درمان دوم با نتایج برجسته اخیر زیر که با وضوح اتمی از آن زمان به دست آمده است سروکار دارد: طیف‌سنجی نیرو و نقشه‌برداری با وضوح اتمی. چنگال تنظیم؛ دستکاری اتمی؛ میکروسکوپ نیروی تبادل مغناطیسی؛ تصویربرداری اتمی و مولکولی در مایعات؛ و سایر فناوری های جدید. این نتایج و فناوری‌ها اکنون به تکامل NC-AFM به سمت ابزارهای عملی برای توصیف و دستکاری اتم‌ها/مولکول‌ها و نانوساختارهای جداگانه با وضوح اتمی/زیر اتمی کمک می‌کنند. بنابراین، این کتاب نشان می‌دهد که چگونه NC-AFM به ابزاری حیاتی برای حوزه‌های در حال گسترش علم نانو و فناوری نانو تبدیل شده است.

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.