دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Noncontact Atomic Force Microscopy
دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی
مشخصات کتاب
Noncontact Atomic Force Microscopy
ویرایش: 1 نویسندگان: Seizo Morita (auth.), Prof. S. Morita, Prof. R. Wiesendanger, Prof. E. Meyer (eds.) سری: NanoScience and Technology ISBN (شابک) : 9783642627729, 9783642560194 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2002 تعداد صفحات: 447 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 33 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 42,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی: نانوتکنولوژی، سطوح و واسط ها، لایه های نازک، علم اندازه گیری و ابزار دقیق، خصوصیات و ارزیابی مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Noncontact Atomic Force Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی
از سال 1995، میکروسکوپ نیروی اتمی غیر تماسی (NC-AFM) به پیشرفت قابل توجهی دست یافته است. بر اساس روش های نانومکانیکی، NC-AFM نیروی جاذبه ضعیف بین نوک یک کنسول و سطح نمونه را تشخیص می دهد. این روش دارای ویژگی های زیر است: قدرت تفکیک اتمی واقعی دارد. می تواند فعل و انفعالات نیروی اتمی را اندازه گیری کند، به عنوان مثال می توان از آن در طیف سنجی نیروی اتمی (AFS) استفاده کرد. همچنین می توان از آن برای مطالعه عایق ها استفاده کرد. و می تواند پاسخ های مکانیکی مانند تغییر شکل الاستیک را اندازه گیری کند. این اولین کتابی است که به تمام مسائل نوظهور NC-AFM می پردازد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages I-XVIII
Introduction....Pages 1-10
Principle of NC-AFM....Pages 11-46
Semiconductor Surfaces....Pages 47-77
Bias Dependence of NC-AFM Images and Tunneling Current Variations on Semiconductor Surfaces....Pages 79-92
Alkali Halides....Pages 93-107
Atomic Resolution Imaging on Fluorides....Pages 109-123
Atomically Resolved Imaging of a NiO(001) Surface....Pages 125-134
Atomic Structure, Order and Disorder on High Temperature Reconstructed α-Al 2 O 3 (0001)....Pages 135-145
NC-AFM Imaging of Surface Reconstructions and Metal Growth on Oxides....Pages 147-165
Atoms and Molecules on TiO 2 (110) and CeO 2 (111) Surfaces....Pages 167-181
NC-AFM Imaging of Adsorbed Molecules....Pages 183-192
Organic Molecular Films....Pages 193-213
Single-Molecule Analysis....Pages 215-231
Low-Temperature Measurements: Principles, Instrumentation, and Application....Pages 233-256
Theory of Non-Contact Atomic Force Microscopy....Pages 257-278
Chemical Interaction in NC-AFM on Semiconductor Surfaces....Pages 279-304
Contrast Mechanisms on Insulating Surfaces....Pages 305-347
Analysis of Microscopy and Spectroscopy Experiments....Pages 349-369
Theory of Energy Dissipation into Surface Vibrations....Pages 371-394
Measurement of Dissipation Induced by Tip-Sample Interactions....Pages 395-431
Back Matter....Pages 433-440
