دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: H Kitano Affiliation: Faculty of Engineering. Shizuoka University. Johoku. Hamamatsu 432-8561 Japan., M Murakami Affiliation: Faculty of Engineering. Shizuoka University. Johoku. Hamamatsu 432-8561 Japan., Y Kawata Affiliation: Faculty of Engineering. Shizuoka University. Johoku. Hamamatsu 432-8561 Japan., C Egami Affiliation: Faculty of Engineering. Shizuoka University. Johoku. Hamamatsu 432-8561 Japan., O Sugihara Affiliation: Faculty of Engineering. Shizuoka University. Johoku. Hamamatsu 432-8561 سری: ناشر: سال نشر: 2001 تعداد صفحات: 168 زبان: English فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 5 Mb
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
در صورت تبدیل فایل کتاب Non-optically probing near-field microscopy with illumination of total internal reflection به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ میدان نزدیک کاوشگر غیر نوری با نور انعکاس کلی داخلی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
ما یک میکروسکوپ میدان نزدیک غیر کاوشگر نوری با نور انعکاس کلی
داخلی ایجاد کردهایم. از آنجایی که نور روشنایی از نمونه ها عبور
نمی کند، می توان نمونه های ضخیم یا مواد با جذب بالا را مشاهده
کرد. نویز پسزمینه را کاهش میدهد، زیرا طول فروپاشی موج
ناپایدار چند صد نانومتر است. ما دریافتیم که اگرچه در سیستم
روشنایی انعکاس داخلی کل نور از لایه حساس به نور عبور
کرده و نمونه را روشن می کند، اما به شدت بر فیلم حساس به نور
تأثیر نمی گذارد و هیچ تأثیری ندارد. وضوح را محدود کنید خواص
تصویربرداری نور انعکاس و روشنایی انتقال با استفاده از روش دامنه
زمانی دیفرانسیل محدود تحلیل میشوند. بیشتر
بخوانید... < /div>
چکیده: ما یک میکروسکوپ میدان نزدیک غیر کاوشگر نوری با نور
انعکاس کلی داخلی ایجاد کردهایم. از آنجایی که نور روشنایی از
نمونه ها عبور نمی کند، می توان نمونه های ضخیم یا مواد با جذب
بالا را مشاهده کرد. نویز پسزمینه را کاهش میدهد، زیرا طول
فروپاشی موج ناپایدار چند صد نانومتر است. ما دریافتیم که اگرچه
در سیستم روشنایی انعکاس داخلی کلی، نور از فیلم حساس به نور عبور
کرده و نمونه را روشن می کند، اما به شدت بر فیلم حساس به نور
تأثیر نمی گذارد و وضوح را محدود نمی کند. خواص تصویربرداری نور
انعکاس و روشنایی انتقال با استفاده از روش دامنه زمانی دیفرانسیل
محدود تحلیل میشوند.
We have developed a non-optically probing near-field microscope
with illumination of total internal reflection. Because the
illumination light does not pass through the specimens, it is
possible to observe thick specimens or highly absorptive
materials. It reduces the background noise because the decay
length of the evanescent wave is a few hundred nanometres. We
found that although in the total internal reflection
illumination system
the light passed through the photosensitive film and
illuminated the specimen, it did not affect the photosensitive
film severely and did not limit the resolution. The imaging
properties of reflection illumination and transmission
illumination are analysed using a finite-differential time
domain method. Read
more...
Abstract: We have developed a non-optically probing near-field
microscope with illumination of total internal reflection.
Because the illumination light does not pass through the
specimens, it is possible to observe thick specimens or highly
absorptive materials. It reduces the background noise because
the decay length of the evanescent wave is a few hundred
nanometres. We found that although in the total internal
reflection illumination system the light passed through the
photosensitive film and illuminated the specimen, it did not
affect the photosensitive film severely and did not limit the
resolution. The imaging properties of reflection illumination
and transmission illumination are analysed using a
finite-differential time domain method