دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems
دانلود کتاب نسل بعدی HALT و HASS: طراحی قوی الکترونیک و سیستم ها
مشخصات کتاب
Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems
ویرایش: نویسندگان: Gray. Kirk, Paschkewitz. John James سری: ISBN (شابک) : 9781118700204, 111870021X ناشر: John Wiley & Sons سال نشر: 2016 تعداد صفحات: 299 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 11 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 29,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب نسل بعدی HALT و HASS: طراحی قوی الکترونیک و سیستم ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب نسل بعدی HALT و HASS: طراحی قوی الکترونیک و سیستم ها
نسل بعدی HALT و HASS یک تغییر پارادایم عمده از روش‌های مبتنی بر پیش‌بینی قابلیت اطمینان به کشف خطرات قابلیت اطمینان سیستم‌های الکترونیکی را ارائه می‌دهد. این امر با ادغام تست حیات با شتاب بالا (HALT) و صفحه نمایش استرس با سرعت بالا (HASS) در یک روش توسعه محصول و فرآیند قوی مبتنی بر فیزیک از شکست به دست می‌آید. روش‌های جدید، کاربرد اشتباه گمراه‌کننده و گاهی پرهزینه روش‌های پیش‌بینی شکست احتمالی (FPM) را به چالش می‌کشند و یک نقشه قطعی جدید برای توسعه قابلیت اطمینان ارائه می‌دهند. نویسندگان به وضوح رویکرد جدید را با پیشرفت منطقی بیان مسئله و راه حل ها توضیح می دهند. این کتاب با توضیح اینکه چرا مفروضات گمراه‌کننده مورد استفاده برای FPM نامعتبر است، به مهندسان کمک می‌کند تا از HALT و HASS استفاده کنند. در مرحله بعد، استفاده از روش‌های کشف تجربی HALT و HASS برای یافتن سریع عناصر غیرقابل اعتماد در سیستم‌های الکترونیکی به خوانندگان بینش عملی نسبت به تکنیک‌ها می‌دهد. فیزیک روش‌های HALT و HASS برجسته می‌شود، و نشان می‌دهد که چگونه شکست‌های نرم‌افزار را به دلیل تعامل سخت‌افزار-نرم‌افزار در سیستم‌های دیجیتال کشف و جدا می‌کنند. استفاده از محدودیت‌های استرس عملیاتی تجربی برای توسعه ابزارهای آینده و متمایزکننده‌های قابلیت اطمینان شرح داده شده است. ویژگی های کلیدی: * مبنای روشنی برای حرکت از مدل های پیش بینی قابلیت اطمینان آماری به روش های عملی بیمه و بهبود قابلیت اطمینان ارائه می دهد. * روش‌های پیش‌بینی شکست موجود را با برجسته کردن محدودیت‌های آنها با استفاده از داده‌های میدانی واقعی به چالش می‌کشد. * یک رویکرد عملی برای چرایی و چگونگی اعمال HALT و HASS در سیستم های الکترونیکی و الکترومکانیکی را توضیح می دهد. * فرصت‌هایی را برای توسعه تشخیص‌دهنده‌های تست قابلیت اطمینان برای پیش‌آگهی‌ها با استفاده از محدودیت‌های استرس تجربی ارائه می‌کند. * مهندسان و مدیران را در مورد مزایای روش های قطعی و کارآمدتر HALT و HASS راهنمایی می کند. * روش‌های کشف حد تجربی HALT و HASS را در فرآیند توسعه محصول و فرآیند قوی مبتنی بر فیزیک شکست ادغام می‌کند.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks. This is achieved by integrating highly accelerated life test (HALT) and highly accelerated stress screen (HASS) into a physics-of-failure-based robust product and process development methodology. The new methodologies challenge misleading and sometimes costly mis-application of probabilistic failure prediction methods (FPM) and provide a new deterministic map for reliability development. The authors clearly explain the new approach with a logical progression of problem statement and solutions. The book helps engineers employ HALT and HASS by illustrating why the misleading assumptions used for FPM are invalid. Next, the application of HALT and HASS empirical discovery methods to quickly find unreliable elements in electronics systems gives readers practical insight to the techniques. The physics of HALT and HASS methodologies are highlighted, illustrating how they uncover and isolate software failures due to hardware-software interactions in digital systems. The use of empirical operational stress limits for the development of future tools and reliability discriminators is described. Key features: * Provides a clear basis for moving from statistical reliability prediction models to practical methods of insuring and improving reliability. * Challenges existing failure prediction methodologies by highlighting their limitations using real field data. * Explains a practical approach to why and how HALT and HASS are applied to electronics and electromechanical systems. * Presents opportunities to develop reliability test discriminators for prognostics using empirical stress limits. * Guides engineers and managers on the benefits of the deterministic and more efficient methods of HALT and HASS. * Integrates the empirical limit discovery methods of HALT and HASS into a physics of failure based robust product and process development process.
فهرست مطالب
Content: Basis and limitations of typical current reliability methods & metrics --
The need for reliability assurance metrics to change --
Challenges to advancing electronics reliability engineering --
A new deterministic reliability development paradigm --
Common understanding of HALT approach is critical for success --
The fundamentals of HALT --
Highly accelerated stress screening (HALT) and audits (HASA) --
HALT benefits for software/firmware performance and reliability --
Quantitative accelerated life test --
Failure analysis and corrective action --
Additional applications of HALT methods.
