دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces
دانلود کتاب بازتاب سنجی نوترونی و اشعه ایکس: پدیده های نوظهور در رابط های ناهمساز
مشخصات کتاب
Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces
ویرایش:
نویسندگان: Saibal Basu. Surendra Singh
سری:
ISBN (شابک) : 9780750346955, 9780750346948
ناشر: IOP Publishing
سال نشر: 2022
تعداد صفحات: 181
[182]
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 41 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 43,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب بازتاب سنجی نوترونی و اشعه ایکس: پدیده های نوظهور در رابط های ناهمساز نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب بازتاب سنجی نوترونی و اشعه ایکس: پدیده های نوظهور در رابط های ناهمساز
زمینه فیلم های فوق نازک، زیرگروهی از نانومواد، در 30 سال گذشته شاهد افزایش تحقیقات بوده است. مطالعات عمدتاً با استفاده از بازتاب سنجی نوترونی و اشعه ایکس انجام شده است. تکنیک بازتاب سنجی نوترونی پلاریزه یا PNR یک ابزار غیر مخرب منحصر به فرد برای درک مغناطیس لایه نازک در مقیاس طول مزوسکوپی است. این کتاب تکنیک های بازتاب سنجی اشعه ایکس و نوترون و چگونگی استفاده از آنها برای کشف ساختار رابط و مغناطیس در مقیاس طول مزوسکوپی در لایه های نازک و چند لایه را ارائه می دهد. این متن اصول اولیه بازتاب نوترون و اشعه ایکس و حالت های مختلف بازتاب نوترون را با مثال های مفید بسیاری پوشش می دهد. متن مرجع برای دانشجویان پژوهشی که در زمینه مغناطیس رابط در لایه نازک و چند لایه کار می کنند مفید است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
The field of ultra-thin films, a subgroup of nanomaterials, has seen an upsurge in research within the last 30 years. Studies have primarily been done using neutron and x-ray reflectometry. The technique of polarized neutron reflectometry or PNR is a unique non-destructive tool to understand thin film magnetism in mesoscopic length scale. This book presents x-ray and neutron reflectometry techniques and how they can be used to explore interface structure and magnetism at mesoscopic length scale in thin films and multilayers. The text covers the basic principles of neutron and x-ray reflectivity and different mode of neutron reflectivity with many useful examples. The reference text is helpful for research students working in the field of interface magnetism in thin film and multilayers.
