Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach

این کتاب پیشرفت‌های اخیر را در زمینه شناسایی مواد فروالکتریک در مقیاس نانو با استفاده از میکروسکوپ پروب روبشی (SPM) ارائه می‌کند. به مکانیسم‌های تصویربرداری مختلف از حوزه‌های فروالکتریک در SPM، تجزیه و تحلیل کمی سیگنال‌های پاسخ پیزو و همچنین فیزیک پایه فروالکتریک در سطح نانو، مانند سوئیچینگ در مقیاس نانو، اثرات مقیاس‌پذیری، و رفتار انتقال می‌پردازد. این بررسی پیشرفته تئوری و آزمایشات روی پدیده های قطبش در مقیاس نانو مرجع مفیدی برای خوانندگان پیشرفته و همچنین برای تازه واردان و دانشجویان فارغ التحصیل علاقه مند به تکنیک های SPM خواهد بود. افراد غیرمتخصص اطلاعات ارزشمندی را در مورد رویکردهای مختلف برای تعیین مشخصات الکتریکی توسط SPM به دست خواهند آورد، در حالی که به محققان در زمینه فروالکتریک جزئیات اندازه گیری فروالکتریک مبتنی بر SPM ارائه خواهد شد.

This book presents recent advances in the field of nanoscale characterization of ferroelectric materials using scanning probe microscopy (SPM). It addresses various imaging mechanisms of ferroelectric domains in SPM, quantitative analysis of the piezoresponse signals as well as basic physics of ferroelectrics at the nanoscale level, such as nanoscale switching, scaling effects, and transport behavior. This state-of-the-art review of theory and experiments on nanoscale polarization phenomena will be a useful reference for advanced readers as well for newcomers and graduate students interested in the SPM techniques. The non-specialists will obtain valuable information about different approaches to electrical characterization by SPM, while researchers in the ferroelectric field will be provided with details of SPM-based measurements of ferroelectrics.