ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range

دانلود کتاب استانداردها و روش های کالیبراسیون در مقیاس نانو: اندازه گیری های بعدی و مرتبط در محدوده میکرو و نانومتر

Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range

مشخصات کتاب

Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range

دسته بندی: فناوری نانو
ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 352740502X, 9783527405022 
ناشر: Wiley-VCH 
سال نشر: 2005 
تعداد صفحات: 527 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 33,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 18


در صورت تبدیل فایل کتاب Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب استانداردها و روش های کالیبراسیون در مقیاس نانو: اندازه گیری های بعدی و مرتبط در محدوده میکرو و نانومتر نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب استانداردها و روش های کالیبراسیون در مقیاس نانو: اندازه گیری های بعدی و مرتبط در محدوده میکرو و نانومتر

تعیین کمی خواص ریز و نانوساختارها در تحقیق و توسعه ضروری است. همچنین یک پیش نیاز در کنترل فرآیند و تضمین کیفیت در صنعت است. آگاهی از ابعاد هندسی سازه ها در بیشتر موارد پایه ای است که سایر خصوصیات فیزیکی و شیمیایی به آن مرتبط است. اندازه‌گیری‌های کمی نیازمند ابزارهای قابل اعتماد و پایدار، روش‌های اندازه‌گیری مناسب و همچنین مصنوعات و روش‌های کالیبراسیون مناسب هستند. سمینار "NanoScale 2004" (ششمین سمینار میکروسکوپ کمی و دومین سمینار استانداردها و روش های کالیبراسیون نانومقیاس) در موسسه ملی مترولوژی (Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB)، براونشوایگ، آلمان، ادامه سلسله سمینارهای Quantitative Microcopy در مورد استانداردها و روش های کالیبراسیون نانومقیاس است. این مجموعه تبادل اطلاعات بین تولیدکنندگان سخت افزار و نرم افزار مربوطه و کاربران در علم و صنعت را تحریک می کند. موضوعاتی که در این جلسات به آن پرداخته شده است الف) کاربرد اندازه‌گیری‌های کمی و مسائل اندازه‌گیری در: میکروالکترونیک، فناوری میکروسیستم، نانو/کوانتوم/الکترونیک مولکولی، شیمی، زیست‌شناسی، پزشکی، فناوری محیط زیست، علم مواد، پردازش سطح ب) روش های کالیبراسیون و اصلاح: روش های کالیبراسیون، استانداردهای کالیبراسیون، روش های کالیبراسیون، اندازه گیری های قابل ردیابی، استانداردسازی، عدم قطعیت اندازه گیری ها ج) ابزار دقیق و روش‌ها: ابزارها و روش‌های جدید/بهبود یافته، موقعیت‌یابی کاوشگر/نمونه قابل تکرار، سیستم‌های اندازه‌گیری موقعیت، سیستم‌های کاوشگر/ردیاب جدید/بهبود یافته، روش‌های خطی‌سازی، پردازش تصویر


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The quantitative determination of the properties of micro- and nanostructures is essential in research and development. It is also a prerequisite in process control and quality assurance in industry. The knowledge of the geometrical dimensions of structures in most cases is the base, to which other physical and chemical properties are linked. Quantitative measurements require reliable and stable instruments, suitable measurement procedures as well as appropriate calibration artefacts and methods. The seminar "NanoScale 2004" (6th Seminar on Quantitative Microscopy and 2nd Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods) at the National Metrology Institute (Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB), Braunschweig, Germany, continues the series of seminars on Quantitative Microscopy. The series stimulates the exchange of information between manufacturers of relevant hard- and software and the users in science and industry. Topics addressed in these proceedings are a) the application of quantitative measurements and measurement problems in: microelectronics, microsystems technology, nano/quantum/molecular electronics, chemistry, biology, medicine, environmental technology, materials science, surface processing b) calibration & correction methods: calibration methods, calibration standards, calibration procedures, traceable measurements, standardization, uncertainty of measurements c) instrumentation and methods: novel/improved instruments and methods, reproducible probe/sample positioning, position-measuring systems, novel/improved probe/detector systems, linearization methods, image processing



فهرست مطالب

front matter.pdf......Page 1
ch01.pdf......Page 22
ch02.pdf......Page 42
ch03.pdf......Page 58
ch04.pdf......Page 65
ch05.pdf......Page 79
ch06.pdf......Page 92
ch07.pdf......Page 112
ch08.pdf......Page 127
ch09.pdf......Page 137
ch10.pdf......Page 149
ch11.pdf......Page 162
ch12.pdf......Page 175
ch13.pdf......Page 189
ch14.pdf......Page 210
ch15.pdf......Page 222
ch16.pdf......Page 237
ch17.pdf......Page 247
ch18.pdf......Page 259
ch19.pdf......Page 274
ch20.pdf......Page 284
ch21.pdf......Page 297
ch22.pdf......Page 310
ch23.pdf......Page 325
ch24.pdf......Page 335
ch25.pdf......Page 344
ch26.pdf......Page 358
ch27.pdf......Page 371
ch28.pdf......Page 386
ch29.pdf......Page 396
ch30.pdf......Page 415
ch31.pdf......Page 421
ch32.pdf......Page 433
ch33.pdf......Page 443
ch34.pdf......Page 452
ch35.pdf......Page 461
ch36.pdf......Page 472
ch37.pdf......Page 489
ch38.pdf......Page 508
index.pdf......Page 523




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی