ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Nanometer CMOS ICs: From Basics to ASICs

دانلود کتاب آی سی های CMOS نانومتری: از پایه تا ASIC

Nanometer CMOS ICs: From Basics to ASICs

مشخصات کتاب

Nanometer CMOS ICs: From Basics to ASICs

ویرایش: 2 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9783319475974, 9783319475950 
ناشر: Springer International Publishing 
سال نشر: 2017 
تعداد صفحات: 638 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 24 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 37,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب آی سی های CMOS نانومتری: از پایه تا ASIC: مدارها و سیستم ها، مدارها و دستگاه های الکترونیکی، الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 6


در صورت تبدیل فایل کتاب Nanometer CMOS ICs: From Basics to ASICs به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب آی سی های CMOS نانومتری: از پایه تا ASIC نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب آی سی های CMOS نانومتری: از پایه تا ASIC



این کتاب درسی مقدمه‌ای جامع و کاملاً به‌روز شده درباره ملزومات مدارهای مجتمع نانومتری CMOS ارائه می‌کند. این شامل جنبه‌هایی از مقیاس‌بندی حتی فراتر از فناوری‌ها و طرح‌های CMOS 12 نانومتری است. این به وضوح اصول عملیاتی اساسی CMOS را توصیف می کند و بینش قابل توجهی را در مورد جنبه های مختلف پیاده سازی و کاربرد طراحی ارائه می دهد. پوشش شامل تمام رشته‌های مرتبط با نانومترهای CMOS، از جمله فیزیک، لیتوگرافی، فناوری، طراحی، حافظه‌ها، VLSI، مصرف برق، تنوع، قابلیت اطمینان و یکپارچگی سیگنال، آزمایش، بازده، تجزیه و تحلیل شکست، بسته‌بندی، روند مقیاس‌بندی و بلوک‌های جاده‌ای است. این متن بر اساس فیلیپس، نیمه هادی های NXP، مواد کاربردی، ASML، IMEC، ST-Ericsson، TSMC و غیره، دروس داخلی است که تا به امروز توسط بیش از 4500 مهندس که در انواع مختلف کار می کنند تکمیل شده است. رشته های مرتبط: معماری، طراحی، تست، فرآیند ساخت، بسته بندی، تجزیه و تحلیل شکست و نرم افزار.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This textbook provides a comprehensive, fully-updated introduction to the essentials of nanometer CMOS integrated circuits. It includes aspects of scaling to even beyond 12nm CMOS technologies and designs. It clearly describes the fundamental CMOS operating principles and presents substantial insight into the various aspects of design implementation and application. Coverage includes all associated disciplines of nanometer CMOS ICs, including physics, lithography, technology, design, memories, VLSI, power consumption, variability, reliability and signal integrity, testing, yield, failure analysis, packaging, scaling trends and road blocks. The text is based upon in-house Philips, NXP Semiconductors, Applied Materials, ASML, IMEC, ST-Ericsson, TSMC, etc., courseware, which, to date, has been completed by more than 4500 engineers working in a large variety of related disciplines: architecture, design, test, fabrication process, packaging, failure analysis and software.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xxxvii
Basic Principles....Pages 1-44
Geometrical-, Physical- and Field-Scaling Impact on MOS Transistor Behaviour....Pages 45-72
Manufacture of MOS Devices....Pages 73-159
CMOS Circuits....Pages 161-225
Special Circuits, Devices and Technologies....Pages 227-247
Memories....Pages 249-320
Very Large Scale Integration (VLSI) and ASICs....Pages 321-380
Less Power, a Hot Topic in IC Design....Pages 381-427
Robustness of Nanometer CMOS Designs: Signal Integrity, Variability and Reliability....Pages 429-493
Testing, Yield, Packaging, Debug and Failure Analysis....Pages 495-571
Effects of Scaling on MOS IC Design and Consequences for the Roadmap....Pages 573-594
Back Matter....Pages 595-611




نظرات کاربران