Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

این کتاب تکنیک‌های کارآمد برای آزمایش تولید و همچنین برای آزمایش تعمیر و نگهداری دوره‌ای (مخصوصاً از نظر خطاهای چند سلولی) در حافظه نیمه‌رسانای مدرن را شرح می‌دهد. نویسنده انتخاب پس‌زمینه و الگوریتم‌های مرتب‌سازی مجدد آدرس را در فرآیندهای آزمایشی شفاف چند مرحله‌ای بحث می‌کند. روش‌های رسمی برای تولید آزمایش چند مرحله‌ای و بسیاری از راه‌حل‌ها برای افزایش کارایی آن‌ها به تفصیل شرح داده شده‌اند. تمام روش‌های ارائه‌شده با بررسی‌های تحلیلی و شبیه‌سازی‌های عددی تأیید می‌شوند.

• اولین کتابی را ارائه می‌کند که منحصراً به مشکل تشخیص خطای چند سلولی توسط آزمایش‌های چند مرحله‌ای در تست حافظه مربوط می‌شود. فرآیند؛
  
• الگوریتم‌های عملی را برای طراحی و اجرای آزمون‌های چند مرحله‌ای کارآمد ارائه می‌دهد؛
  
• روش‌هایی را نشان می‌دهد که با بررسی‌های تحلیلی و تجربی تأیید شده‌اند.
  </ li>

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their efficiency are described in detail. All methods presented ideas are verified by both analytical investigations and numerical simulations.

• Provides the first book related exclusively to the problem of multi-cell fault detection by multi-run tests in memory testing process;
  
• Presents practical algorithms for design and implementation of efficient multi-run tests;
  
• Demonstrates methods verified by analytical and experimental investigations.