دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: Athanasios T. Ramkaj, Marcel J.M. Pelgrom, Michiel S. J. Steyaert, Filip Tavernier سری: Analog Circuits and Signal Processing ISBN (شابک) : 3031227085, 9783031227080 ناشر: Springer سال نشر: 2023 تعداد صفحات: 288 [289] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 24 Mb
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
در صورت تبدیل فایل کتاب Multi-Gigahertz Nyquist Analog-to-Digital Converters: Architecture and Circuit Innovations in Deep-Scaled CMOS and FinFET Technologies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مبدلهای آنالوگ به دیجیتال Nyquist چند گیگاهرتز: نوآوریهای معماری و مدار در فناوریهای CMOS و FinFET با مقیاس عمیق نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب مدار، معماری و راهحلهای سیستمی نوآورانهای را در فناوریهای CMOS و FinFET با مقیاس عمیق پیشنهاد میکند که به چالشهای به حداکثر رساندن دقت*سرعت/قدرت نمونه چند گیگاهرتز و پهنای باند آنالوگ به- میپردازد. مبدل های دیجیتال (ADC) یک رویکرد کل نگر جدید معرفی شده است که ابتدا منابع خطای اصلی بلوکهای ساختمان مبدل را شناسایی میکند و تأثیر آنها را بر عملکرد کلی تجزیه و تحلیل میکند و دقت تحمیلی مدار - سرعت - محدودیتهای توان را ایجاد میکند. تجزیه و تحلیل به سطح معماری، با معرفی یک چارچوب ریاضی برای تخمین و مقایسه محدودیتهای دقت – سرعت – توان چندین معماری و انواع ADC گسترش مییابد. برای به دست آوردن بینش در سطح سیستم، زمان interleaving با جزئیات پوشش داده شده است، و چارچوبی نیز برای مقایسه کمی معیارهای کلیدی معماری های interleaver معرفی شده است. تأثیر فناوری نیز با افزودن اثرات فرآیند از چندین فناوری CMOS با مقیاس عمیق در نظر گرفته میشود.
اعتبار رویکرد تحلیلی معرفیشده و امکانسنجی از مفاهیم پیشنهادی توسط چهار نمونه اولیه سیلیکونی مدارهای مجتمع (IC) که در فناوریهای CMOS و FinFET با مقیاس فوقالعاده عمیق تحقق یافتهاند، نشان داده میشوند.
This book proposes innovative circuit, architecture, and system solutions in deep-scaled CMOS and FinFET technologies, which address the challenges in maximizing the accuracy*speed/power of multi-GHz sample rate and bandwidth Analog-to-Digital Converters (ADC)s. A new holistic approach is introduced that first identifies the major error sources of a converter’ building blocks, and quantitatively analyzes their impact on the overall performance, establishing the fundamental circuit-imposed accuracy – speed – power limits. The analysis extends to the architecture level, by introducing a mathematical framework to estimate and compare the accuracy – speed – power limits of several ADC architectures and variants. To gain system-level insight, time-interleaving is covered in detail, and a framework is also introduced to compare key metrics of interleaver architectures quantitatively. The impact of technology is also considered by adding process effects from several deep-scaled CMOS technologies.
The validity of the introduced analytical approach and the feasibility of the proposed concepts are demonstrated by four silicon prototype Integrated Circuits (IC)s, realized in ultra-deep-scaled CMOS and FinFET technologies.
Preface Acknowledgments Contents List of Figures List of Tables 1 Introduction 1.1 Data Converters in a Digital Era: Need and High-Performance Applications 1.2 Challenges in Pushing Performance Boundaries 1.2.1 ADC Core and Peripherals Challenges 1.2.2 The Good, the Bad, and the Ugly of Deep-Scaled CMOS 1.3 Research Goal and Objectives 1.4 Structure of This Book 2 Analog-to-Digital Conversion Fundamentals 2.1 Theoretical Background 2.1.1 Sampling 2.1.2 Ideal Quantization 2.2 Error Sources 2.2.1 Noise 2.2.2 Non-linearity 2.2.3 Calibration 2.3 Performance Evaluation 2.3.1 Metrics 2.3.2 Figures of Merit 2.4 Accuracy-Speed-Power Limits 2.4.1 Sampler Noise Limit 2.4.2 Quantizer Noise Limit 2.4.3 Metastability Limit 2.4.4 Aperture Jitter Limit 2.4.5 Mismatch Limit 2.4.6 Heisenberg Uncertainty Principle 2.4.7 Putting It All Together 2.5 Conclusion Appendix A: Proper FFT Evaluation Setup 3 Architectural Considerations for High-Efficiency GHz-Range ADCs 3.1 State of the Art 3.2 The Flash Architecture 3.2.1 Overview 3.2.2 Flash Accuracy-Speed-Power Limits 3.2.3 Impact of Scaling 3.3 The SAR Architecture 3.3.1 Overview 3.3.2 The DAC in a SAR 3.3.3 SAR Accuracy-Speed-Power Limits 3.4 The Pipeline Architecture 3.4.1 Overview 3.4.2 Pipeline Accuracy-Speed-Power Limits 3.5 The Pipelined-SAR: A Powerful Hybrid 3.5.1 Overview 3.5.2 Pipelined-SAR Accuracy-Speed-Power Limits 3.6 Architectural Limits\' Comparison 3.7 Time-Interleaving 3.7.1 Overview 3.7.2 Interleaving Errors 3.7.3 Interleaver Architectures 3.8 Conclusion Appendix B: Transconductance—Settled RA Appendix C: Transconductance—Integrator RA 4 Ultrahigh-Speed High-Sensitivity Dynamic Comparator 4.1 Dynamic Regenerative Comparators 4.1.1 Single-Stage Latch-Based Strong-ARM Comparator 4.1.2 Two-Stage Double-Tail Latched Comparator 4.2 Prototype IC: A 28 nm CMOS Three-Stage Triple-Latch Feed-Forward Comparator 4.2.1 Circuit Operation and Analysis 4.2.2 Simulation and Comparison with Prior Art 4.2.3 On-Chip Delay Evaluation Setup 4.3 Experimental Verification 4.3.1 Measurement Setup 4.3.2 Measurement Results 4.3.3 State-of-the-Art Comparison 4.4 Conclusion 5 High-Speed Wide-Bandwidth Single-Channel SAR ADC 5.1 Pushing the SAR Conversion Speed 5.1.1 Conventional Synchronous Clocking Scheme 5.1.2 Speed-Boosting Techniques Asynchronous Processing Multi-bit per Cycle Loop Unrolling Redundancy Pipelining DAC Switching Schemes 5.2 Prototype IC: A 1.25 GS/s 7-bit SAR ADC in 28 nm CMOS 5.2.1 High-Level Design 5.2.2 Semi-asynchronous Processing w/o Logic Delay 5.2.3 Dual-Loop Bootstrapped Input Switch 5.2.4 Unit-Switch-Plus-Cap DAC 5.2.5 Triple-Tail Dynamic Comparator 5.2.6 Custom SAR Logic 5.3 Experimental Verification 5.3.1 Measurement Setup 5.3.2 Measurement Results 5.3.3 State-of-the-Art Comparison 5.4 Conclusion 6 High-Resolution Wide-Bandwidth Time-Interleaved RF ADC 6.1 RF Sampling ADCs: Needs and Challenges 6.1.1 The ADC Role in the Receiver 6.1.2 ADC Architectural Trade-Offs 6.2 Prototype IC: A 5 GS/s 12-bit Hybrid TI-ADC in 28 nm CMOS 6.2.1 High-Level Design 6.2.2 Interleaving Factor and Sub-ADC Architecture 6.2.3 Passive Input Front-End 6.2.4 Clock Generation and Distribution 6.2.5 Hybrid Sub-ADC Design 6.2.6 Digital Calibration 6.3 Experimental Verification 6.3.1 Measurement Setup 6.3.2 Measurement Results 6.3.3 State-of-the-Art Comparison 6.4 Conclusion Appendix D: TI ADC Power Estimation with On-Chip Input Buffer 7 Ultra-Wideband Direct RF Receiver Analog Front-End 7.1 Pushing the Bandwidth Beyond 20 GHz 7.1.1 Revisiting the Analog Front-End Problem 7.1.2 Increasing Integration and Challenges 7.2 Prototype IC: A 30 GHz-Bandwidth <-57 dB-IM3 Front-End in 16 nm FinFET CMOS 7.2.1 High-Level Front-End Chain 7.2.2 Filter with Distributed ESD and Variable Attenuation 7.2.3 Two-Path Push-Pull Hybrid Amplifier 7.2.4 Push-Pull Bootstrapped Cascoded Buffer 7.3 Experimental Verification 7.3.1 Measurement Setup 7.3.2 Measurement Results 7.3.3 State-of-the-Art Comparison 7.4 Conclusion 8 Conclusions, Contributions, and Future Work 8.1 Overview and General Conclusions 8.2 Original Scientific Contributions 8.3 Suggestions for Future Work Bibliography Index